benlong 
bancada de testes de envelhecimento de medidores elétricos
Bancada de ensaio de envelhecimento de contadores elétricos trifásicos com fonte de alimentação de precisão ZN-D3000. Rack vertical de alta densidade (até 96 posições), monitorização de registos em tempo real, testes de comunicação (RS485/óptica), proteção automática, registo de dados. Reduz a mortalidade infantil, garante uma vida útil de 15 anos. Em conformidade com as normas IEC/ANSI.
Bancada de testes de envelhecimento de medidores de eletricidade trifásicos para confiabilidade de medidores inteligentes
Este testador elétrico, com confiabilidade comprovada, foi projetado especificamente para testar milhares de medidores inteligentes trifásicos multifuncionais, avaliando sua qualidade geral e durabilidade em aplicações de alto volume. O testador utiliza a fonte de alimentação de precisão ZN-D3000 para fornecer cargas de tensão/corrente consistentes, simulando o uso prolongado em campo e mantendo a precisão das medições e a integridade estrutural durante a aplicação de carga estática contínua. O equipamento foi projetado para suportar múltiplos processos de envelhecimento simultâneos, utilizando conectores modulares montados no rack vertical do medidor, tornando-se uma solução de teste de altíssima densidade.
Como parte do seu processo contínuo de medição, o sistema monitora quaisquer alterações em indicadores-chave, como rigidez dielétrica, acúmulo de registros (teste de caminhada) e estabilidade do protocolo de comunicação (IEC 62056 – 21, DLMS/COSEM). A interface de controle pode ser usada para ajustar o ângulo de fase, a distorção harmônica e os níveis de carga com maior precisão. O registro de dados em tempo real e a proteção automática contra desligamento permitem testes seguros e a manutenção de registros históricos durante um período de teste 24 horas por dia, 7 dias por semana. Este robusto regime de testes atende ou supera os padrões internacionais de teste (IEC, ANSI) e garante uma vida útil de 15 anos em condições extremas. Ao melhorar a taxa de mortalidade infantil de dispositivos eletrônicos, o banco de testes proporciona precisão de faturamento a longo prazo.
Entrega padrão: 45 a 60 dias | Fonte de alimentação ZN-D3000 | Rack vertical de alta densidade
O que é uma bancada de testes de envelhecimento de medidores elétricos?
Uma bancada de testes de envelhecimento para medidores de energia elétrica foi projetada para realizar testes acelerados de ciclo de vida (burn-in) de medidores de energia monofásicos e trifásicos, utilizando tensões e correntes controladas sob condições ambientais estabelecidas (temperatura ambiente). Ao aplicar a tensão e a corrente nominais por um período prolongado (horas a dias), é possível identificar falhas prematuras em componentes eletrônicos, juntas de solda e peças mecânicas. A bancada de testes é utilizada com uma fonte de alimentação programável de alta precisão (por exemplo, ZN-D3000), um rack de montagem de medidores de alta densidade com conectores modulares e um software de registro de dados. A bancada coleta dados para testes de funcionamento (ou seja, acumulação de registros), estabilidade de comunicação e rigidez dielétrica durante o ciclo de envelhecimento do medidor. O sistema de bancada de testes de envelhecimento também ajudará a reduzir a taxa de mortalidade precoce de medidores inteligentes e garantirá a conformidade com as normas IEC 62053-11/22, ANSI C12 ou requisitos específicos de confiabilidade do cliente. Por se tratar de uma solução personalizada e não padronizada, este sistema será adaptado ao formato específico do seu medidor, ao número de posições (por exemplo, 24, 48 ou 96 medidores) e aos protocolos de comunicação.
Sincronização de tensão e corrente trifásicas, com amplitude, fase e harmônicos ajustáveis.
Conectores modulares para teste simultâneo de múltiplos medidores (24 a 96 posições).
Rigidez dielétrica, acumulação de registros, estabilidade do protocolo de comunicação.
Proteção contra sobrecarga e sobretemperatura; exportação CSV/MES para rastreabilidade.
Recursos de teste e componentes do sistema
Especificações técnicas
| Modelo de fonte de alimentação | ZN‑D3000 (trifásico programável) |
|---|---|
| Faixa de tensão de saída | 0 – 480 V CA (fase-neutro), ajustável – |
| Faixa de saída atual | 0 – 120 A por fase, programável – |
| Faixa de frequência | 45 – 65 Hz, precisão ±0,01 Hz– |
| Simulação harmônica | 2ª a 21ª ordem, amplitude/fase programável – |
| Número de posições do medidor | Padrão 24, 48 ou 96 (personalizável) – |
| Protocolos de comunicação | RS485 (Modbus, DLMS/COSEM), porta óptica, saída de pulso – |
| Parâmetros de monitoramento | Acumulação de registros (teste de caminhada), rigidez dielétrica, erros de comunicação, temperatura – |
| Recursos de proteção | Sobrecarga, sobretemperatura, curto-circuito, desarme automático – |
| Fonte de energia | 380V ±10% 50Hz (principal) | Controle: 220V– |
Principais vantagens técnicas
O envelhecimento paralelo de alta densidade reduz o tempo de ciclo.
Com até 96 posições de medição, a bancada acelera significativamente os testes de envelhecimento acelerado. Cada posição é monitorada independentemente, permitindo a qualificação de lotes sem reduzir a produtividade.
Fonte de precisão ZN‑D3000 para simulação realista de grades
A fonte de alimentação integrada fornece tensão e corrente trifásicas sincronizadas com ângulos de fase, harmônicos e níveis de carga ajustáveis. Isso simula distúrbios reais na rede elétrica (quedas de tensão, harmônicos) que afetam o desempenho do medidor.
Comunicação abrangente e monitoramento de registros
Durante o ciclo de envelhecimento, a bancada lê os registros do medidor via RS485 ou porta óptica, verificando se a acumulação permanece precisa sob estresse contínuo. Os erros de comunicação são registrados para análise da estabilidade do protocolo.
Segurança automática e rastreabilidade de dados
A proteção contra desligamentos em tempo real evita danos causados por falhas no medidor. Todos os dados de teste (registros de tensão/corrente, valores de registro, eventos de erro) são salvos e podem ser exportados para MES ou CSV, proporcionando rastreabilidade completa para auditorias ISO 17025.
Caso de sucesso do cliente – Fabricante de medidores inteligentes
Um importante fabricante de medidores inteligentes precisava reduzir a taxa de falhas em campo de seus medidores trifásicos devido à falha prematura de componentes eletrônicos (mortalidade infantil). Para atender a essa necessidade, a Benlong forneceu uma bancada de testes de envelhecimento de medidores com 96 posições, equipada com uma fonte de alimentação ZN-D3000 e um sistema de monitoramento de registros em tempo real. Seis meses após a instalação dessas bancadas de testes:
Em menos de 10 meses após a instalação, o cliente pôde se beneficiar da economia de custos proporcionada pela bancada, garantindo um importante contrato com uma concessionária de serviços públicos que exigia conformidade com a norma IEC 62053-22.
Aplicações e Integração
Engenharia e entrega personalizadas
Solicite um orçamento personalizado para um banco de testes de envelhecimento de medidores elétricos.
Forneça-nos as especificações do seu medidor, a quantidade de posições de teste e o protocolo de comunicação. Nossos engenheiros projetarão para você uma bancada de envelhecimento personalizada, utilizando nossa fonte de alimentação ZN-D3000 com registro completo de dados, além de um relatório abrangente de retorno sobre o investimento (ROI).
WhatsApp: +86 150 5837 0007 | E-mail: xsb@benlongkj.cn | Suporte em inglês e chinês
Por que escolher a Benlong para bancadas de envelhecimento de medidores?
- Mais de 15 anos de experiência em design. equipamento de teste de medidor de energia para concessionárias de serviços públicos e fabricantes
- Integração comprovada da fonte de alimentação de precisão ZN-D3000
- Racks verticais de alta densidade (até 96 posições)
- Monitoramento de registros em tempo real e testes de comunicação
- Rastreabilidade completa – registro de dados no MES, conformidade com as normas IEC/ANSI.
Um banco personalizado típico inclui:
Fonte de alimentação trifásica programável – ZN-D3000, rack de medidores de alta densidade (pode ser construído em qualquer formato), conectores de teste modulares, controle PLC/IHM, software de registro de dados em tempo real, módulos de comunicação RS485 + porta óptica, proteção contra sobrecarga e sobretemperatura, certificado de calibração, instalação + treinamento, 1 ano de garantia.
Perguntas frequentes
Testes de envelhecimento, baseados em uma tensão e corrente específicas, são aplicados a medidores durante um longo período de tempo, como de 24 a 72 horas, para identificar componentes eletrônicos (como capacitores, fontes de alimentação ou conexões de solda) que são propensos a falhas em campo, ajudando assim a reduzir a mortalidade infantil e garantindo uma longa vida útil de novos produtos.
Em intervalos regulares (por exemplo, a cada hora), a bancada obterá leituras dos registros do medidor por meio de uma porta RS485 ou óptica e calculará um acumulador para esses registros, a fim de compará-lo com um valor de referência para detectar desvios ou erros de comunicação (conhecido como "teste de caminhada").
Com certeza! Estarão disponíveis configurações de medidores monofásicos e trifásicos; isso inclui configurações de conexão monofásica utilizando energia monofásica e configurações de conexão trifásica utilizando a configuração de fonte trifásica ZN-D3000. Racks de backup podem ser criados, porém exigirão fiação separada.
O dispositivo pode se conectar usando RS485 (Modbus RTU, DLMS/COSEM), uma porta óptica (IEC 62056-21), saídas de pulso ou, opcionalmente, sem fio (LoRa, NB-IoT). Integrações personalizadas podem ser feitas com o dispositivo.
Cada posição do medidor possui um disjuntor ou fusível individual para isolamento em caso de falha, além de proteção contra sobrecarga (limitação de corrente), desligamento por sobretemperatura, detecção de curto-circuito e proteção contra falha de aterramento.
Produtos relacionados
Bancada de calibração de disparo térmico manual para disjuntores
Ver detalhes
Bancada de calibração térmica de longa duração MCB
Ver detalhes
Bancada de calibração de disparo térmico semiautomático MCB Tipo A
Ver detalhes
bancada de testes de vida útil do mecanismo MCB
Ver detalhes
RCBO bancada de testes abrangente semiautomática
Ver detalhes
