{"id":496,"date":"2026-06-06T19:19:25","date_gmt":"2026-06-06T19:19:25","guid":{"rendered":"https:\/\/khkrh7q1ur.wpdns.site\/?p=496"},"modified":"2026-06-06T19:39:52","modified_gmt":"2026-06-06T19:39:52","slug":"mccb-test-bench-best-practices-for-reliable-testing","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/blog\/mccb-test-bench-best-practices-for-reliable-testing\/","title":{"rendered":"G\u00fcvenilir Devre Kesici Testi i\u00e7in En \u0130yi 10 MCCB Test Tezgah\u0131 Uygulama Y\u00f6ntemi"},"content":{"rendered":"

Ger\u00e7ek kalite zorlu\u011fu:<\/strong> Bir panel montaj LLC'sindeki Kalite M\u00fcd\u00fcr\u00fc'ne g\u00f6re, 500 MCCB test edildikten sonra \u015fu sonu\u00e7lara var\u0131ld\u0131: \u201cHepsini rutin testlerden ge\u00e7irdik. Ancak, termal a\u00e7ma ar\u0131zalar\u0131yla ilgili olarak, kurulumdan sonra sahada 12 adet reddettik.\u201d Termal a\u00e7ma ar\u0131za oranlar\u0131n\u0131n test tezgah\u0131nda g\u00f6zden ka\u00e7mas\u0131n\u0131n nedeni; delta\/variasyonlar\u0131n test edilmemesi, \u00e7\u00fcnk\u00fc test yaln\u0131zca 25 derece Celsius'ta ger\u00e7ekle\u015ftirildi.<\/p><\/blockquote>\n

Bir MCCB test tezgah\u0131<\/strong><\/a> temel bir ge\u00e7i\u015f\/ge\u00e7meme istasyonu de\u011fil, daha fazla sorumlulu\u011fa sahip bir istasyondur. Test tezgah\u0131n\u0131n sorumlulu\u011fu, \u00e7e\u015fitli s\u0131cakl\u0131klar arac\u0131l\u0131\u011f\u0131yla termal kalibrasyonu, manyetik a\u00e7ma e\u015fi\u011fini, yal\u0131t\u0131m\u0131 ve mekanik dayan\u0131kl\u0131l\u0131\u011f\u0131 do\u011fru bir \u015fekilde \u00f6l\u00e7erek kal\u0131pl\u0131 kasa devre kesicilerini (10A \u2013 1600A aral\u0131\u011f\u0131nda; kesme kapasitesi 150kA'ya kadar) do\u011fru bir \u015fekilde test etmektir. K\u0131lavuz, kaliteli uyumlu bir MCCB test tezgah\u0131n\u0131 temel uyumlu bir test tezgah\u0131ndan ay\u0131rt etmek i\u00e7in 10 en iyi uygulama sunmaktad\u0131r. Bu en iyi uygulamalar, IEC 60947-2 ve y\u00fcksek hacimli \u00fcretim hatlar\u0131ndan elde edilen \u00fcretim verilerine dayanmaktad\u0131r.<\/p>\n

Bu k\u0131lavuz \u015funlar\u0131 kapsar:<\/h2>\n
    \n
  • D\u00f6rt \u00f6n test kurulum uygulamas\u0131 (\u00e7evre, kalibrasyon, dok\u00fcmantasyon, g\u00fcvenlik)<\/li>\n
  • \u00dc\u00e7 temel test uygulamas\u0131 (termal, manyetik, yal\u0131t\u0131m\/dielektrik)<\/li>\n
  • Veri ve s\u00fcrekli iyile\u015ftirme i\u00e7in iki uygulama<\/li>\n
  • Uzun vadeli g\u00fcvenilirlik i\u00e7in bir genel uygulama<\/li>\n
  • MCCB testleri hakk\u0131nda SSS (elektriksel, t\u0131bbi de\u011fil)<\/li>\n<\/ul>\n

    \"G\u00fcvenilir<\/p>\n

    \u00d6n test kurulum uygulamalar\u0131 (1\u20134)<\/h2>\n

    Ortam s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131n\u0131 \u00b15\u00b0C i\u00e7inde kontrol edin<\/h3>\n

    MCCB termal a\u00e7ma testi, ak\u0131m\u0131 \u0131s\u0131 \u00fcretmek i\u00e7in kullanan bimetalik \u015feritlerle ger\u00e7ekle\u015ftirilir, ancak bir bimetalik \u015feridin \u00e7al\u0131\u015fma h\u0131z\u0131 yaln\u0131zca akan ak\u0131m miktar\u0131na de\u011fil, ayn\u0131 zamanda \u00e7evredeki havan\u0131n s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131na da ba\u011fl\u0131d\u0131r. F\u0131r\u0131na \u00e7ok yak\u0131n olan veya do\u011frudan g\u00fcne\u015f \u0131\u015f\u0131\u011f\u0131na maruz kalan bir test tezgah\u0131 g\u00fcvenilir veri sa\u011flamaz. Bimetalik a\u00e7ma cihazlar\u0131n\u0131n test edilmesi i\u00e7in optimum ortam, 25\u00b0C \u00b15\u00b0C s\u0131cakl\u0131k aral\u0131\u011f\u0131d\u0131r; test alan\u0131n\u0131n s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131n\u0131 izlemek i\u00e7in veri kaydediciler kullan\u0131l\u0131r ve bu aral\u0131\u011f\u0131n d\u0131\u015f\u0131ndaki s\u0131cakl\u0131klar\u0131 hesaba katmak i\u00e7in teste herhangi bir d\u00fczeltici fakt\u00f6r uygulan\u0131r. Bir\u00e7ok y\u00fcksek hacimli \u00fcretim hatt\u0131, MCCB'leri test etmek i\u00e7in s\u0131cakl\u0131k kontroll\u00fc bir odada \u00f6zel test tezgahlar\u0131na sahiptir.<\/p>\n

    Ak\u0131m kaynaklar\u0131n\u0131 ve sens\u00f6rleri her 6 ayda bir kalibre edin<\/h3>\n

    Test ak\u0131m\u0131nda +5% hatas\u0131 varsa kabul edilebilir bir a\u00e7ma s\u00fcresi fark\u0131 olu\u015fmayacakt\u0131r. Birincil ak\u0131m enjeksiyon kayna\u011f\u0131n\u0131n do\u011frulu\u011funu, birka\u00e7 test ak\u0131m\u0131nda (\u00f6rne\u011fin 100A, 500A ve 1000A gibi) izlenebilir referans ampermetre (do\u011fruluk \u00b10.5%) kullanarak do\u011frulamal\u0131s\u0131n\u0131z. Kalibrasyon kay\u0131tlar\u0131n\u0131 en az \u00fc\u00e7 y\u0131l boyunca saklamal\u0131s\u0131n\u0131z. MCCB uzun s\u00fcreli termal kalibrasyon tezgah\u0131, herhangi bir i\u015fe ba\u015flamadan \u00f6nce do\u011frulanm\u0131\u015f ak\u0131m do\u011frulu\u011fu gereksinimini g\u00f6sterebilir.<\/p>\n

    \u201cTest y\u00fcr\u00fctmeden \u00f6nce test plan\u0131\u201d kural\u0131n\u0131 uygulay\u0131n<\/h3>\n

    T\u00fcm MCCB t\u00fcrleri i\u00e7in a\u015fa\u011f\u0131dakileri i\u00e7eren yaz\u0131l\u0131 standart i\u015fletim prosed\u00fcr\u00fc (SOP) geli\u015ftirin:
    \nTest ak\u0131m\u0131n\u0131 ger\u00e7ekle\u015ftirmek i\u00e7in kullan\u0131lan ak\u0131m (% I olarak).
    \nTestle ili\u015fkili zaman pencereleri.
    \nTest s\u0131ras\u0131nda cihazlar\u0131n ka\u00e7 kez \u00e7al\u0131\u015ft\u0131r\u0131ld\u0131\u011f\u0131n\u0131 belirtin.
    \nCihazlar\u0131n ba\u015far\u0131 veya ba\u015far\u0131s\u0131zl\u0131k durumunu belirlemek i\u00e7in kullan\u0131lan kriterler.<\/p>\n

    Belgelendirilmi\u015f bir plan olmadan ke\u015fif testi yapmay\u0131n. Ke\u015fif testi, standart d\u0131\u015f\u0131, tutars\u0131z kararlara yol a\u00e7acakt\u0131r. MCCB Manuel Manyetik Trip Test Tezgah\u0131, her bir manyetik e\u011fri (C, D ve K) i\u00e7in a\u00e7\u0131k\u00e7a belirlenmi\u015f prosed\u00fcrlere sahip olmal\u0131d\u0131r.<\/p>\n

    Fiziksel engeller ve acil durdurma yerleri kullan\u0131n.<\/h3>\n

    5000A'n\u0131n \u00fczerindeki y\u00fcksek ak\u0131m seviyeleriyle bir MCCB testi, ark parlamalar\u0131na neden olabilir. MCCB'ler \u00fczerinde test yapmadan \u00f6nce a\u015fa\u011f\u0131daki \u00f6nlemleri al\u0131n: test alan\u0131n\u0131n etraf\u0131na \u015feffaf polikarbonat korumalar kurun; kolay eri\u015filebilir iki (2) acil durdurma butonu sa\u011flay\u0131n; ve ana g\u00fc\u00e7 kayna\u011f\u0131 i\u00e7in bir kilitleme\/etiketleme istasyonu sa\u011flay\u0131n. Test otomatik bir tezgah \u00fczerinde yap\u0131l\u0131yorsa, \u00f6rne\u011fin bir MCCB yar\u0131 otomatik y\u00fcksek voltaj test tezgah\u0131, test devresi ve muhafaza kap\u0131s\u0131 kilitlenmi\u015f olmal\u0131d\u0131r.<\/p>\n

    \"MCCB<\/p>\n

    Temel test uygulamalar\u0131 (5\u20137)<\/h2>\n

    \u0130ki ak\u0131m seviyesinde termal kalibrasyon yap\u0131n.<\/h3>\n

    Hem 100% nominal ak\u0131mda (trip yok) hem de 135% nominal ak\u0131mda (1 saat i\u00e7inde trip) IEC 60947\u20112'ye g\u00f6re do\u011frulanmal\u0131d\u0131r. Ancak, \u00e7o\u011fu \u00fcretici\/test tezgah\u0131 yaln\u0131zca 135%'de trip'i do\u011frular, bu nedenle daha d\u00fc\u015f\u00fck a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fcklerde kalibrasyon kaymas\u0131n\u0131 g\u00f6zden ka\u00e7\u0131r\u0131r. En iyi uygulama, 115% ve 150%'de trip s\u00fcrelerini de kaydetmek olacakt\u0131r, b\u00f6ylece zaman - ak\u0131m e\u011frilerini tamamen tamamlam\u0131\u015f olursunuz. MCCB uzun s\u00fcreli (termal) kalibrasyon test tezgah\u0131, bu testlerin t\u00fcm\u00fcn\u00fc otomatik olarak ger\u00e7ekle\u015ftirmek i\u00e7in geli\u015ftirilmi\u015ftir.<\/p>\n

    E\u011frinin s\u0131n\u0131r\u0131nda manyetik trip testi yap\u0131n.<\/h3>\n

    Bir c-e\u011frisi mccb'yi test ederken (5-10x in), sadece devre kesiciyi 10x in'de test etmeyin; bunun yerine, an\u0131nda trip yapmas\u0131na neden olan minimum ak\u0131m\u0131 bulmak i\u00e7in biriminizi test edin. \u00d6nerilen yakla\u015f\u0131m, 4x in'den ba\u015flay\u0131p ak\u0131m\u0131 0.5x art\u0131\u015flarla art\u0131rarak trip ak\u0131m\u0131n\u0131 belirlemektir. Do\u011fru \u00e7al\u0131\u015fan bir mccb, de\u011ferler aral\u0131\u011f\u0131nda 5x ile 10x aras\u0131nda trip yapmal\u0131d\u0131r. Biriminizi yaln\u0131zca bir y\u00fcksek de\u011ferde test ederseniz, \u00e7ok erken (yanl\u0131\u015f trip) veya \u00e7ok ge\u00e7 (tehlike riski) trip yapan birimi g\u00f6zden ka\u00e7\u0131rabilirsiniz. M\u00fcmk\u00fcnse, c-e\u011frisi mccb trip mekanizmas\u0131n\u0131 do\u011fru bir \u015fekilde test etmek i\u00e7in otomatik ak\u0131m tarama \u00f6zelli\u011fine sahip bir test makinesi kullan\u0131n.<\/p>\n

    Dielektrik dayan\u0131m\u0131n\u0131 yal\u0131t\u0131m direnci kontrol\u00fc ile birle\u015ftirin.<\/h3>\n

    Y\u00fcksek voltajl\u0131 dielektrik testi (normalde nominal voltaj\u0131n 2 kat\u0131, art\u0131 g\u00fc\u00e7 uygulamas\u0131ndan \u00f6nce bir dakika boyunca ek 1.000 volt) ve 500\/1.000 voltluk yal\u0131t\u0131m direnci (IR) testi (bu de\u011ferin 100 megaohm'dan b\u00fcy\u00fck olmas\u0131 gerekir) termal ve manyetik testlerin ard\u0131ndan gereklidir. \u00c7o\u011fu test tezgah\u0131 yaln\u0131zca bu testlerden birini ger\u00e7ekle\u015ftirir; ancak her ikisini de yapmak, farkl\u0131 t\u00fcrdeki ar\u0131zalar\u0131n tespitini kolayla\u015ft\u0131r\u0131r. \u00d6zellikle, dielektrik testleri y\u00fczey izlenimini tan\u0131mlamaya yard\u0131mc\u0131 olurken, yal\u0131t\u0131m direnci testleri nem emilimini ve\/veya i\u00e7 kirlenmeyi tan\u0131mlamaya yard\u0131mc\u0131 olacakt\u0131r. MCCB yar\u0131 otomatik y\u00fcksek voltaj test tezgah\u0131, her iki testi de otomatik olarak ard\u0131\u015f\u0131k olarak ger\u00e7ekle\u015ftirme kapasitesine sahiptir.<\/p>\n

    Veri ve s\u00fcrekli iyile\u015ftirme uygulamalar\u0131 (8\u20139)<\/h2>\n

    Her trip zaman\u0131n\u0131 ve kuvvet de\u011ferini kaydedin<\/h3>\n

    Sadece ge\u00e7me\/kalma g\u00f6stergesi yeterli olmayacakt\u0131r. Her bir test i\u00e7in ge\u00e7en s\u00fcreyi (milisaniye veya saniye cinsinden) kaydetmenin yan\u0131 s\u0131ra, ortam s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131n\u0131 ve test ak\u0131m\u0131n\u0131 da kaydedin. Zamanla, t\u00fcm bu verileri bir kontrol grafi\u011fine koyun ve trip zaman\u0131n\u0131n art\u0131p artmad\u0131\u011f\u0131n\u0131 kontrol edin (\u00f6rne\u011fin, 135% In'deki orijinal trip zaman\u0131ndan 28 saniyeden 135% In'deki 35 saniyeye), ard\u0131ndan \u00fcretim hatt\u0131ndan red olmadan \u00f6nce kesiciyi yeniden kalibre edin. Bu \u00f6ng\u00f6r\u00fcc\u00fc y\u00f6ntem, MCCB'leri otomatik olarak \u00fcreten bir \u00fcretim hatt\u0131nda uygulanm\u0131\u015ft\u0131r.<\/p>\n

    \u00dc\u00e7 ayl\u0131k test tezgah\u0131 denetimi planlay\u0131n<\/h3>\n

    Testlerinizin \u00fcretici spesifikasyonlar\u0131yla uyumlu oldu\u011funu do\u011frulamak i\u00e7in \u201calt\u0131n \u00f6rnek\u201d testini ger\u00e7ekle\u015ftirmeniz gerekir. Bu testi, bilinen trip zamanlar\u0131na sahip bir MCCB (motor devre kesici) \u00fczerinde ger\u00e7ekle\u015ftirin (bir referans tezgah\u0131nda \u00f6l\u00e7\u00fclen). Sonu\u00e7lar\u0131n\u0131z temel de\u011ferden 5% daha fazla ise, test devresini, sens\u00f6rleri veya ba\u011flant\u0131lar\u0131 kontrol edin. Denetim, rutin kalibrasyonun g\u00f6zden ka\u00e7\u0131rabilece\u011fi herhangi bir kayman\u0131n bu s\u00fcre\u00e7te yakalanmas\u0131n\u0131 sa\u011flamaya yard\u0131mc\u0131 olur. Denetim sonu\u00e7lar\u0131n\u0131n basit bir elektronik tablosunu tutun.<\/p>\n

    Uzun vadeli g\u00fcvenilirlik uygulamas\u0131 (10)<\/h2>\n

    Operat\u00f6rleri sadece \u201cnas\u0131l\u201d de\u011fil, \u201cneden\u201d konusunda e\u011fitin\u201d<\/h3>\n

    S\u0131cakl\u0131k nedeniyle termal trip zaman\u0131ndaki dalgalanmalar\u0131n nedenini (bimetalik \u015feridin fizi\u011fi) bilen ve ayr\u0131ca temas direncinin neden \u00f6nemli oldu\u011funu (\u0131s\u0131 \u00fcretimi) anlayan operat\u00f6rler, daha iyi kararlar vermeye yard\u0131mc\u0131 olacakt\u0131r. Operat\u00f6rler, zaman-ak\u0131m e\u011frilerini nas\u0131l yorumlayacaklar\u0131; temaslar\u0131n a\u015f\u0131nd\u0131\u011f\u0131n\u0131 g\u00f6steren i\u015faretleri nas\u0131l tespit edecekleri; ve IEC 60947-2 standartlar\u0131nda nelerin gerekti\u011fi konusunda y\u0131ll\u0131k e\u011fitim almal\u0131d\u0131r. Her vardiyada en az iki operat\u00f6r i\u00e7in \u00e7apraz e\u011fitim yap\u0131lmal\u0131d\u0131r, \u00e7\u00fcnk\u00fc yaln\u0131zca bir ki\u015finin e\u011fitilmesi, tek bir hata noktas\u0131 olu\u015fturur.<\/p>\n

    \"MCCB<\/p>\n

    S\u0131k\u00e7a sorulan sorular (SSS)<\/h2>\n

    MCCB testi nedir?<\/h3>\n

    Bir Kal\u0131pl\u0131 Devre Kesici (MCCB) testi, MCCB'nin yay\u0131mlanan zaman-ak\u0131m e\u011frisine g\u00f6re performans g\u00f6sterip g\u00f6stermedi\u011fini ve uygun nominal gerilimine dayan\u0131p dayanamayaca\u011f\u0131n\u0131 do\u011frular. MCCB'nin tam test setini olu\u015fturan testler \u015funlard\u0131r: termal kalibrasyon (a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck kesmesi), manyetik (anl\u0131k kesme) do\u011frulama, temas direnci testi, dielektrik dayan\u0131m (y\u00fcksek voltaj izolasyon testi) ve mekanik dayan\u0131kl\u0131l\u0131k (i\u015flem say\u0131s\u0131). Gerekli testler IEC 60947-2 ve UL 489'da tan\u0131mlanm\u0131\u015ft\u0131r. MCCB testini ger\u00e7ekle\u015ftirmek i\u00e7in kullan\u0131lan ekipmana MCCB test masas\u0131 denir ve bu, manuel kalibrasyon test masalar\u0131ndan tamamen otomatik hat i\u00e7i test cihazlar\u0131na kadar de\u011fi\u015fiklik g\u00f6sterebilir.<\/p>\n

    MCCB rutin testleri i\u00e7in tipik frekans nedir?<\/h3>\n

    \u00dcreticiler, \u00fcretilen t\u00fcm \u00fcretim birimlerinde rutin testler (termal testler, manyetik testler veya dielektrik testler) ger\u00e7ekle\u015ftirir \u2013 100%. Saha i\u00e7inde kurulu MCCB'ler i\u00e7in IEEE, bunlar\u0131n her 1 ila 3 y\u0131lda bir veya bilinen bir ar\u0131za olay\u0131ndan sonra test edilmesini \u00f6nermektedir \u2013 Hastaneler ve Veri Merkezleri gibi Kritik Uygulamalarda, y\u0131ll\u0131k olarak test edilmeleri \u00f6nerilmektedir. Uygun oldu\u011funda yerel d\u00fczenlemelere ve \u00fcretici \u00f6nerilerine uydu\u011funuzdan emin olun.<\/p>\n

    MCCB'ler i\u00e7in birincil ve ikincil enjeksiyon testi aras\u0131ndaki fark nedir?<\/h3>\n

    Birincil enjeksiyon testindeki y\u00fcksek ak\u0131m ak\u0131\u015f\u0131, ger\u00e7ek bir y\u00fck kullanarak hem termal hem de manyetik kesmeyi ayn\u0131 anda test etmek i\u00e7in ger\u00e7ekle\u015ftirilir. A\u011f\u0131r hizmet tipi bir test setinin kullan\u0131lmas\u0131 \u00e7ok hassas sonu\u00e7lar \u00fcretebilir ancak sahip olmak veya kiralamak pahal\u0131 olabilir. \u0130kinci enjeksiyon testi veya ikincil enjeksiyon y\u00f6ntemi, yaln\u0131zca elektronik devreye ak\u0131m (elektronik kesme t\u00fcrleri) besleyerek alg\u0131lama ve mant\u0131\u011f\u0131n d\u00fczg\u00fcn \u00e7al\u0131\u015fmas\u0131n\u0131 kontrol eder, ancak g\u00fc\u00e7 yolunu kontrol etmez. Bu y\u00f6ntemi kullan\u0131rken, do\u011fru test sonu\u00e7lar\u0131 i\u00e7in her zaman MCCB'leri test etmek i\u00e7in uygun ekipmana sahip bir test masas\u0131 kullan\u0131lmal\u0131d\u0131r.<\/p>\n

    MCCB'nin izolasyon direncini nas\u0131l test edersiniz?<\/h3>\n

    Bir megohmmetre ile izolasyonu test ederken, 250V DC'nin alt\u0131nda bir MCCB'ye 500V DC veya daha y\u00fcksek voltajda bir MCCB'ye 1000V DC uygulars\u0131n\u0131z. Test y\u00f6ntemi \u015fudur: \u2013 Kesici kapal\u0131yken hat ve y\u00fck terminalleri aras\u0131nda \u00f6l\u00e7\u00fcm yap\u0131n \u2013 Her kutup ile toprak aras\u0131nda \u00f6l\u00e7\u00fcm yap\u0131n (her zaman kesici a\u00e7\u0131kken) \u2013 A\u00e7\u0131k kontaklar aras\u0131nda \u00f6l\u00e7\u00fcm yap\u0131n. Sa\u011fl\u0131kl\u0131 bir MCCB'nin izolasyon direnci 100 megohm'un \u00fczerinde olmal\u0131d\u0131r. 5 megohm'un alt\u0131ndaki bir izolasyon direnci, izolasyondaki nem i\u00e7eri\u011fini, ark nedeniyle karbon izlerini veya izolasyondaki kirlenmeyi g\u00f6sterebilir. Testten sonra her zaman kapasitans\u0131 bo\u015falt\u0131n.<\/p>\n

    Bu uygulamalar MCCB test masan\u0131za nas\u0131l uygulan\u0131r?<\/h2>\n

    On en iyi uygulamalar hem manuel kalibrasyon masalar\u0131na hem de otomatik hat i\u00e7i test cihazlar\u0131na uygulan\u0131r. Kolay ve d\u00fc\u015f\u00fck maliyetle tutarl\u0131 bir kalibrasyon deneyimi sa\u011flamak i\u00e7in ilk d\u00f6rt uygulamay\u0131 (\u00e7evre, kalibrasyon, test plan\u0131 ve g\u00fcvenlik) uygulamaya ba\u015flay\u0131n. Veri kayd\u0131 (uygulama #8) ve periyodik denetimleri (#9) kademeli olarak uygulay\u0131n. Y\u00fcksek hacimli \u00fcretim i\u00e7in, bu uygulamalar\u0131 entegre etmek amac\u0131yla otomatik s\u0131cakl\u0131k telafisi ve MES'ye veri y\u00fcklemeleri kullanan \u00f6zel bir MCCB test masas\u0131 geli\u015ftirmeyi d\u00fc\u015f\u00fcn\u00fcn.<\/p>\n

    Ba\u015far\u0131l\u0131 MCCB testi<\/strong> yaln\u0131zca pahal\u0131 ekipman yerine titiz s\u00fcre\u00e7lere dayan\u0131r. Ortam\u0131n ortam s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131n\u0131 do\u011fru bir \u015fekilde kontrol etmek, aletleri d\u00fczenli olarak kalibre etmek, birden fazla ak\u0131m seviyesi testi yapmak ve trend analizi i\u00e7in verileri kaydetmek, on en iyi uygulamay\u0131 kullanan MCCB test masan\u0131z\u0131n erken kalibrasyon kaymas\u0131n\u0131 yakalamas\u0131n\u0131 sa\u011flayarak saha ar\u0131zalar\u0131n\u0131 azaltacak ve IEC 60947\u20112'ye uyumu sa\u011flayacakt\u0131r. Aksine, ortam s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131n\u0131 y\u00f6netmemek veya birden fazla ak\u0131m seviyesinde test yapmamak, a\u00e7\u0131klanmayan bir risk yarat\u0131r. Operat\u00f6r e\u011fitimine yat\u0131r\u0131m yapmak ve \u00fc\u00e7 ayl\u0131k denetimler yapmak, \u015firketinizin \u00fcr\u00fcn itibar\u0131na tek bir test arac\u0131ndan daha b\u00fcy\u00fck bir etki yapacakt\u0131r.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

    Real quality challenge: According to the Quality Manager at a panel building LLC the following was concluded after testing 500 MCCBs: \u201cWe passed all of them through routine tests. However, regarding thermal trip intermittent failures we had 12 reject in the field after being installed.\u201d The reason why the thermal trip fail rates were missed […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":498,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[1],"tags":[],"class_list":["post-496","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-blog"],"blocksy_meta":[],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/496","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=496"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/496\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":502,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/496\/revisions\/502"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/media\/498"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=496"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=496"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=496"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}