{"id":2024,"date":"2026-11-02T16:50:26","date_gmt":"2026-11-02T16:50:26","guid":{"rendered":"https:\/\/benlongkj.com\/?p=2024"},"modified":"2026-11-02T16:56:54","modified_gmt":"2026-11-02T16:56:54","slug":"what-is-automatic-test-equipment-2","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/blog\/what-is-automatic-test-equipment-2\/","title":{"rendered":"Otomatik Test Ekipman\u0131 Nedir?"},"content":{"rendered":"

Tan\u0131m ayr\u0131ca $15 milyar yar\u0131 iletken end\u00fcstrisi ve her seferinde 600 testin yap\u0131ld\u0131\u011f\u0131 bir kesici tesisindeki test merkezini de ifade eder. Bu iki varl\u0131k otomatik test cihazlar\u0131 olarak adland\u0131r\u0131labilir, ancak temelde ayn\u0131 \u015feydir, bu nedenle al\u0131c\u0131 t\u00fcr\u00fcn\u00fcn terimin anla\u015f\u0131lmas\u0131n\u0131 nas\u0131l etkileyebilece\u011fini bilmek gereklidir.<\/p>\n

Ayr\u0131ca, ATE'nin ekipman\u0131n kullan\u0131m alanlar\u0131, i\u015fletimi ve \u00f6zellikleri dahil olmak \u00fczere t\u00fcm alanlar\u0131 kapsayacak \u015fekilde tart\u0131\u015f\u0131ld\u0131\u011f\u0131 ve uygun ekipman\u0131n sat\u0131n al\u0131nmas\u0131nda do\u011fru se\u00e7imin nas\u0131l yap\u0131laca\u011f\u0131 belirtilmelidir.<\/p>\n

\u00d6zetle, genellikle ATE olarak bilinen test makinelerimiz vard\u0131r; bu, \u00fcr\u00fcne giri\u015f sa\u011flayan, yan\u0131t\u0131 \u00f6l\u00e7en ve operat\u00f6r m\u00fcdahalesi olmadan kabul edilebilir olup olmad\u0131\u011f\u0131n\u0131 belirten herhangi bir cihaz olarak tan\u0131mlan\u0131r. Bu pazardaki ana alan, t\u00fcm pazar\u0131n yakla\u015f\u0131k 86%'sini kar\u015f\u0131layan Advantest ve Teradyne taraf\u0131ndan y\u00fcr\u00fct\u00fclen yar\u0131 iletken ATE'dir. Elektrik temelli bir ba\u015fka t\u00fcr daha vard\u0131r.<\/p><\/blockquote>\n

\"Otomatik<\/p>\n

Otomatik Test Ekipman\u0131 Asl\u0131nda Nedir<\/h2>\n

Basit\u00e7e s\u00f6ylemek gerekirse, d\u00f6rt i\u015flev vard\u0131r: gerilim, ak\u0131m, RF sinyali, s\u0131cakl\u0131k veya hareket gibi uyar\u0131c\u0131y\u0131 \u00fcretir. Uyar\u0131c\u0131y\u0131 DUT'a uygular. Bilinen do\u011frulukta bir cihaz kullanarak yan\u0131t\u0131 \u00f6l\u00e7er. Sonucu s\u0131n\u0131rla kar\u015f\u0131la\u015ft\u0131r\u0131r ve karar\u0131 kaydeder.<\/p>\n

\u00d6nemli olan kelime \u2018otomatik\u2019tir. Bir multimetre ve deneyimli bir teknisyen t\u00fcm d\u00f6rt i\u015flevi yava\u015f h\u0131zda ger\u00e7ekle\u015ftirebilir. ATE, d\u00f6rd\u00fcnc\u00fc durumda insan m\u00fcdahalesi oldu\u011fu ve \u00fc\u00e7\u00fcnc\u00fc durumda birka\u00e7 y\u00fcz tekrardan sonra g\u00fcvenilirli\u011fin kayboldu\u011fu ger\u00e7e\u011fi nedeniyle vard\u0131r.<\/p>\n

Sonra, kategoriyi ne olmad\u0131\u011f\u0131 \u00fczerinden tan\u0131mlayabiliriz. ATE kesinlikle karar verdi\u011fi i\u00e7in bir veri kaydedici de\u011fildir. ATE, diziyi ger\u00e7ekle\u015ftirdi\u011fi i\u00e7in bir tezgah cihaz\u0131 de\u011fildir. Ayr\u0131ca, her ATE sisteminde istisnas\u0131z bulunan bir test prosed\u00fcr\u00fc olmas\u0131na ra\u011fmen, test prosed\u00fcr\u00fc de de\u011fildir.<\/p>\n

ATE Sat\u0131n Alan End\u00fcstriler ve Her Birinin Test Etti\u011fi \u015eeyler<\/h2>\n

Alt\u0131 sekt\u00f6r neredeyse t\u00fcm pazar\u0131 olu\u015fturur ve aralar\u0131ndaki farklar benzerliklerden daha b\u00fcy\u00fckt\u00fcr.<\/p>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
Sekt\u00f6re<\/th>\nNe test edilir<\/th>\nSistem ne yapmal\u0131<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
Yar\u0131 \u0130letken<\/td>\nDie'lar, paketlenmi\u015f IC'ler, bellek, SoC'ler<\/td>\nGigahertz h\u0131z\u0131nda binlerce pin, b\u00fcy\u00fck paralellik<\/td>\n<\/tr>\n
Otomotiv<\/td>\nECU'lar, sens\u00f6rler, kablo demetleri, batarya mod\u00fclleri<\/td>\nVeri yolu sim\u00fclasyonu, \u00e7evresel d\u00f6ng\u00fc, izlenebilirlik<\/td>\n<\/tr>\n
Havac\u0131l\u0131k ve savunma<\/td>\nHavac\u0131l\u0131k hat de\u011fi\u015ftirilebilir birimleri<\/td>\nOn y\u0131llarca destek, belgelenmi\u015f kalibrasyon, yeniden yap\u0131land\u0131r\u0131labilir aray\u00fczler<\/td>\n<\/tr>\n
T\u0131bbi cihazlar<\/td>\nMonit\u00f6rler, pompalar, g\u00f6r\u00fcnt\u00fc alt montajlar\u0131<\/td>\nDo\u011frulama kay\u0131tlar\u0131, denetim izleri, yaz\u0131l\u0131m kalifikasyonu<\/td>\n<\/tr>\n
Telekom\u00fcnikasyon<\/td>\nOptik mod\u00fcller, RF \u00f6n u\u00e7lar\u0131, a\u011f ekipmanlar\u0131<\/td>\nProtokol uyumu, optik g\u00fc\u00e7 ve dalga boyu<\/td>\n<\/tr>\n
Elektrik ve g\u00fc\u00e7<\/td>\nDevre kesiciler, RCD'ler, kontakt\u00f6rler, komple paneller<\/td>\nY\u00fcksek ak\u0131m enjeksiyonu, trip zamanlamas\u0131, kontak direnci<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

\u00c7o\u011fu insan yar\u0131 iletken segmentini belirtilen k\u0131saltma ile ili\u015fkilendirir. Bunun nedeni, modern bir System on Chip'in binlerce pime sahip olmas\u0131d\u0131r; bu da test cihazlar\u0131n\u0131n bunlar\u0131n \u00e7o\u011funu ayn\u0131 anda, y\u0131ld\u0131r\u0131m h\u0131z\u0131nda \u00f6l\u00e7mesi ve s\u00fcrmesi gerekti\u011fi anlam\u0131na gelir; burada herhangi bir pikosaniye ba\u015far\u0131 ile ba\u015far\u0131s\u0131zl\u0131k aras\u0131ndaki fark\u0131 ifade edebilir. Bu kesinlikle seri \u00fcretimde \u00f6l\u00e7\u00fclmesi en zor problemdir ve bunu ba\u015farm\u0131\u015f \u015firketler d\u00fcnyan\u0131n en de\u011ferli \u00fcreticileri aras\u0131ndad\u0131r.<\/p>\n

Otomotiv segmenti en dinamik olan\u0131d\u0131r. Elektrikli ara\u00e7, her biri kendi izleme devresi taraf\u0131ndan kontrol edilen onlarca mod\u00fcle sahip bir batarya paketi i\u00e7erir. G\u00f6rev, bir bile\u015feni kontrol etmekten, esasen veri yolunu kullanarak bir sistemi do\u011frulamaya de\u011fi\u015fmi\u015ftir. Havac\u0131l\u0131k segmentine gelince, en istikrarl\u0131 ancak en talepkar olan\u0131d\u0131r; \u00e7\u00fcnk\u00fc bu segment i\u00e7in mevcut olan hat de\u011fi\u015ftirme birimi otuz y\u0131l hizmette kalabilir, bu da test ekipman\u0131n\u0131n otuz y\u0131l boyunca bak\u0131m\u0131n\u0131n yap\u0131labilir olmas\u0131 gerekti\u011fi anlam\u0131na gelir.<\/p>\n

\"ATE<\/p>\n

Yar\u0131 \u0130letken ATE: Kategoriyi A\u00e7\u0131klayan Duopol<\/h2>\n

Yay\u0131nlanan \u00e7o\u011fu tahmin, Advantest ve Teradyne'in birlikte yar\u0131 iletken ATE pazar\u0131n\u0131n yakla\u015f\u0131k 's\u0131n\u0131 elinde tuttu\u011funu g\u00f6stermektedir; Advantest bazen ikisi aras\u0131nda daha b\u00fcy\u00fck olan olarak kabul edilir. Advantest 2025'te yakla\u015f\u0131k 1,47 trilyon gelir bildirdi; Teradyne ise yakla\u015f\u0131k 1,43 trilyon. Y\u00fcksek u\u00e7 SoC ve bellek testi i\u00e7in yo\u011funla\u015fma daha da y\u00fcksektir ve '\u0131 a\u015fmaktad\u0131r.<\/p>\n

Bu yap\u0131 belirli bir modelden kaynaklanmaktad\u0131r. Teradyne\u2019in 1960'lardaki J259'u genellikle ATE \u00e7a\u011f\u0131n\u0131 ba\u015flatan olarak kabul edilir. Advantest, Japon yar\u0131 iletken \u00fcretimi b\u00fcy\u00fcd\u00fck\u00e7e bellek test pazar\u0131n\u0131 ald\u0131 ve ard\u0131ndan 2000'lerde sat\u0131n almalarla konsolide oldu. Sonu\u00e7, yeni bir kat\u0131l\u0131mc\u0131n\u0131n m\u00fc\u015fterilerin test programlar\u0131n\u0131 zaten olu\u015fturdu\u011fu bir platformda mevcut bir rakibi yenmek zorunda oldu\u011fu bir end\u00fcstri oldu; bu, asl\u0131nda daha h\u0131zl\u0131 bir cihaz yapmaktan daha zor bir problemdir.<\/p>\n

Pazar, AI silikonuyla desteklenerek muazzam \u015fekilde b\u00fcy\u00fcm\u00fc\u015ft\u00fcr. K\u00fcresel yar\u0131 iletken test ekipmanlar\u0131n\u0131n 2026'da yakla\u015f\u0131k 1,53 trilyon seviyesine ula\u015fmas\u0131 ve 2028'e kadar 2,08 trilyona yakla\u015fmas\u0131 beklenmektedir. Mekanizma basittir ve biraz sezgiye ayk\u0131r\u0131d\u0131r: daha karma\u015f\u0131k \u00e7ipler test i\u00e7in daha fazla zaman gerektirir. \u00d6nde gelen bir AI h\u0131zland\u0131r\u0131c\u0131s\u0131ndaki test s\u00fcresi bir nesilde yakla\u015f\u0131k 350 saniyeden sonraki nesilde 700 ile 1.000 saniye aras\u0131nda artm\u0131\u015ft\u0131r; bu nedenle ayn\u0131 say\u0131da \u00e7ip i\u00e7in test cihaz\u0131 kapasitesi iki ila \u00fc\u00e7 kat\u0131na \u00e7\u0131kar. Test, art\u0131k bir maliyet kalemi olmaktan \u00e7\u0131km\u0131\u015f ve verimlilik i\u00e7in bir k\u0131s\u0131tlama olarak g\u00f6r\u00fclmeye ba\u015flanm\u0131\u015ft\u0131r.<\/p>\n

Yar\u0131 iletkenler d\u0131\u015f\u0131ndaki herkes i\u00e7in bu hikaye bilgilendiricidir, ancak maalesef kullan\u0131\u015fl\u0131 de\u011fildir. Otomatik test ekipman\u0131 pazar pay\u0131 aray\u0131\u015f\u0131n\u0131n neden yar\u0131 iletken analizini geri getirdi\u011fini ve bir kesici test tezgah\u0131 al\u0131c\u0131s\u0131n\u0131n sa\u011flanan ba\u011flam i\u00e7inde ili\u015fki kuracak hi\u00e7bir \u015fey bulamayaca\u011f\u0131n\u0131 g\u00f6sterir.<\/p>\n

Elektrik End\u00fcstrisinin Ne Test Etti\u011fi ve Neden Farkl\u0131 Oldu\u011fu<\/h2>\n

Tablo elektrik b\u00f6l\u00fcm\u00fcnde yer alan her \u00f6\u011fe, ak\u0131m kesme i\u015flevi g\u00f6r\u00fcr, bu nedenle m\u00fchendislik s\u00fcreci farkl\u0131l\u0131k g\u00f6sterir.<\/p>\n

Minyat\u00fcr devre kesiciler, ak\u0131m de\u011ferleri i\u00e7in termal atma parametresinin de\u011ferlendirilmesi gibi \u00e7e\u015fitli testlere tabi tutulur; atma yapt\u0131\u011f\u0131nda ve yapmad\u0131\u011f\u0131nda; manyetik de\u011fer (nominal ak\u0131m\u0131n birka\u00e7 kat\u0131), kontak direnci, yal\u0131t\u0131m direnci ve daha fazlas\u0131 de\u011ferlendirilir. Ayr\u0131ca, RCD'ler ve RCBO'lar diferansiyel koruma testi ekler. Kontakt\u00f6rler ise bobin \u00e7ekme ve b\u0131rakma testleri ile t\u00fcm kutuplarda a\u015f\u0131nma testleri yapar. Montaj\u0131n eklenmesi, dielektrik dayan\u0131m testinin en sonunda yap\u0131laca\u011f\u0131 anlam\u0131na gelir.<\/p>\n

Elektrik testini ger\u00e7ekle\u015ftirmek i\u00e7in karma\u015f\u0131k bir s\u00fcre\u00e7 gerekmez. Gerekli olan en y\u00fcksek de\u011ferde ak\u0131m, m\u00fckemmel zamanlama ve mekanik s\u00fcre\u00e7tir. \u00d6l\u00e7\u00fcmleri yapmak kolayd\u0131r, ancak sonu\u00e7lar\u0131 elde etmek \u00e7ok zordur.<\/p>\n

Ekonomi b\u00fcy\u00fck \u00f6l\u00e7\u00fcde farkl\u0131d\u0131r. Yar\u0131 iletken testleri milyonlarca die \u00fczerinde yap\u0131l\u0131rken, elektrik testleri her \u00fcretilen test cihaz\u0131nda ger\u00e7ekle\u015ftirilir ve hacim y\u00fcz binlere ula\u015fabilir. Bu, sekt\u00f6rde bir\u00e7ok k\u00fc\u00e7\u00fck \u015firketin varl\u0131\u011f\u0131n\u0131 a\u00e7\u0131klar. Hava devre kesici rutinleri etraf\u0131nda kurulan bir test tezgah\u0131, bu segmentte en b\u00fcy\u00fck formatt\u0131r ve kapsam\u0131 bu genel bak\u0131\u015fta belirtilmi\u015ftir. bir ACB test tezgah\u0131n\u0131n \u00f6l\u00e7t\u00fckleri ve kaydettikleri<\/a>.<\/p>\n

Her ATE Sisteminin Payla\u015ft\u0131\u011f\u0131 Anatomi<\/h2>\n

Test sistemlerinin blok diyagram\u0131, ilgili uygulama alan\u0131na bak\u0131lmaks\u0131z\u0131n be\u015f ana bile\u015fen i\u00e7erir.<\/p>\n