{"id":1647,"date":"2026-08-29T10:56:09","date_gmt":"2026-08-29T10:56:09","guid":{"rendered":"https:\/\/benlongkj.com\/?p=1647"},"modified":"2026-08-28T23:59:18","modified_gmt":"2026-08-28T23:59:18","slug":"thermal-calibration","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/benlongkj.com\/tr\/blog\/thermal-calibration\/","title":{"rendered":"Termal Kalibrasyon Nedir ve Neden MCB ve MCCB \u00dcreticileri \u0130\u00e7in Gereklidir?"},"content":{"rendered":"

Bir devre kesici fabrikas\u0131nda, tamamlanm\u0131\u015f bir MCB'nin g\u00fcvenli mi yoksa hurda m\u0131 olaca\u011f\u0131n\u0131 belirleyen an thermal calibration<\/strong>. Her kesicinin i\u00e7indeki bimetalik eleman\u0131n kesildi\u011fi ve do\u011fruland\u0131\u011f\u0131 ad\u0131md\u0131r, b\u00f6ylece cihaz standart taraf\u0131ndan talep edilen tam zaman aral\u0131\u011f\u0131nda devreyi a\u00e7ar \u2014 ne bir saniye erken ne de bir saniye ge\u00e7. Al\u0131c\u0131lar genellikle bu a\u015famaya gecikme testi der, \u00e7\u00fcnk\u00fc ger\u00e7ekten \u00f6l\u00e7\u00fclen bir kesicinin belirli bir a\u015f\u0131r\u0131 ak\u0131mda devreyi a\u00e7ma s\u00fcresidir. IEC uyumlulu\u011fu gerektiren pazarlara g\u00f6nderilen MCB, MCCB ve RCBO \u00fcreticileri i\u00e7in bu a\u015faman\u0131n do\u011fru yap\u0131lmas\u0131, bir devreyi koruyan bir \u00fcr\u00fcn ile denetimi ge\u00e7emeyen bir \u00fcr\u00fcn aras\u0131ndaki farkt\u0131r. Bu makale,<\/em> MCB termal kalibrasyonunun asl\u0131nda ne oldu\u011funu, gecikme testinin uzun s\u00fcreli ve k\u0131sa s\u00fcreli do\u011frulamaya nas\u0131l ayr\u0131ld\u0131\u011f\u0131n\u0131, IEC 60898-1 alt\u0131nda B, C ve D e\u011frilerinin neden farkl\u0131 ge\u00e7me kriterlerine sahip oldu\u011funu ve modern bir \u00fcretim hatt\u0131nda s\u00fcreci hangi ekipman\u0131n y\u00fcr\u00fctt\u00fc\u011f\u00fcn\u00fc a\u00e7\u0131klar.<\/strong> Devre Kesici \u00dcretiminde Termal Kalibrasyon Nedir?.<\/p>\n

Huang Xiaolei taraf\u0131ndan | Benlong Otomasyon<\/em><\/p>\n

\"\"<\/p>\n

Termal-manyetik a\u00e7ma tekni\u011fi, neredeyse t\u00fcm d\u00fc\u015f\u00fck voltajl\u0131 devre kesiciler taraf\u0131ndan kullan\u0131l\u0131r. A\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck durumu, farkl\u0131 termal genle\u015fme oranlar\u0131na sahip iki metalin bir araya getirildi\u011fi bimetalik \u015ferit kullan\u0131larak ele al\u0131n\u0131r. Ak\u0131m belirtilen s\u0131n\u0131rlar\u0131 a\u015ft\u0131\u011f\u0131nda, \u015ferit \u0131s\u0131n\u0131r ve daha yava\u015f genle\u015fen metale do\u011fru b\u00fck\u00fcl\u00fcr. Uygun miktarda b\u00fck\u00fclme, \u015feridin a\u00e7ma mandal\u0131n\u0131 b\u0131rakmas\u0131na neden olur. Bir a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fckten sonra, ak\u0131m ne kadar y\u00fcksekse, \u0131s\u0131t\u0131c\u0131 o kadar h\u0131zl\u0131 \u0131s\u0131n\u0131r ve dolay\u0131s\u0131yla a\u00e7ma o kadar h\u0131zl\u0131 ger\u00e7ekle\u015fir. Bu cihaz \u00f6zelli\u011fi, termal kalibrasyonun devre kesicilerin \u00fcretim s\u00fcrecinin tamam\u0131 oldu\u011funu, bimetalik \u015feridin ayarlanmas\u0131n\u0131 i\u00e7erdi\u011fini kan\u0131tlar; \u015ferit ya b\u00fck\u00fcl\u00fcr, bu durumda vida ayarlan\u0131r ya da a\u00e7ma ba\u011flant\u0131s\u0131 hareket ettirilir, b\u00f6ylece a\u00e7ma s\u00fcresi her test ak\u0131m\u0131 i\u00e7in mevcut standart taraf\u0131ndan \u00f6nceden belirlenen aral\u0131kta olur.<\/h2>\n

\u00d6nemi k\u00fc\u00e7\u00fcmsenemez, \u00e7\u00fcnk\u00fc kolayca kar\u0131\u015ft\u0131r\u0131lan terimlerin ay\u0131klanmas\u0131na olanak tan\u0131r. Kalibrasyon, mekanizman\u0131n hedeflenen zaman aral\u0131\u011f\u0131na ula\u015facak \u015fekilde ayarlanmas\u0131 veya oraya ula\u015ft\u0131\u011f\u0131n\u0131n do\u011frulanmas\u0131 anlam\u0131na gelir. Ger\u00e7ekte, operat\u00f6r ak\u0131m\u0131 verir ve zaman\u0131 \u00f6l\u00e7erken iki i\u015flem ayn\u0131 anda ger\u00e7ekle\u015fir; \u015ferit ayarlan\u0131r ve birim yeniden kontrol edilir \u00e7\u00fcnk\u00fc unutulmamas\u0131 gereken \u00f6nemli bir ger\u00e7ek, her bimetalik i\u00e7in mekanik ve malzeme \u00f6zelliklerinin farkl\u0131 olmas\u0131d\u0131r, bu da bireysel kalibrasyonun gereklili\u011fini do\u011furur. Kalibrasyon gereksinimlerini kar\u015f\u0131lamayan ar\u0131zal\u0131 bir cihaz, normal \u00e7al\u0131\u015fma modunda a\u00e7abilir veya daha k\u00f6t\u00fcs\u00fc, a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck durumunda tak\u0131l\u0131 kalabilir.<\/p>\n

\u00d6nemi abart\u0131lamaz, \u00e7\u00fcnk\u00fc kolayca kar\u0131\u015ft\u0131r\u0131lan terimlerin ay\u0131klanmas\u0131na olanak tan\u0131r.<\/p>\n

B\u00f6ylece, s\u00fcre\u00e7te iki \u00f6zellik dikkate al\u0131n\u0131r \u2014 \u00e7\u0131k\u0131\u015f\u0131n do\u011frulu\u011fu ve tekrarlanabilirli\u011fi. \u00d6nemli bir detay, ekipmanla ilgili herhangi bir sorun varsa, operat\u00f6rlerin so\u011fuk ba\u015flang\u0131\u00e7tan itibaren tripi kontrol edebilmesidir. Ayar aral\u0131\u011f\u0131 olduk\u00e7a s\u0131k\u0131d\u0131r, genellikle trip ak\u0131m\u0131nda birka\u00e7 y\u00fczde ile s\u0131n\u0131rl\u0131d\u0131r, bu da test tezgah\u0131n\u0131n hata aral\u0131\u011f\u0131n\u0131n kalibrasyon cihaz\u0131ndan \u00e7ok daha k\u00fc\u00e7\u00fck olmas\u0131 gerekti\u011fi anlam\u0131na gelir. Bu, cihaz\u0131n verimli \u00e7al\u0131\u015fmas\u0131n\u0131 sa\u011flamak i\u00e7in g\u00fcvenilir kalibrasyon ekipman\u0131na duyulan ihtiyac\u0131 a\u00e7\u0131klar.<\/p>\n

Her Gecikme Testinin Arkas\u0131ndaki \u0130ki Trip Fonksiyonu<\/h2>\n

Gecikme testinin neden iki segmente ayr\u0131ld\u0131\u011f\u0131n\u0131 anlamak i\u00e7in, kesicinin iki ba\u011f\u0131ms\u0131z koruma \u00f6zelli\u011fine sahip oldu\u011funu anlamam\u0131z gerekir. Termal koruma veya a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck korumas\u0131, yava\u015f tepki veren bimetalik \u015feritten gelir, saniyelerden saatlere kadar s\u00fcrebilir, bu nedenle trip e\u011frisinde uzun zaman b\u00f6l\u00fcm\u00fcn\u00fc olu\u015fturur. Bu, termal karakteristik taraf\u0131ndan ayarlanand\u0131r. Manyetik koruma veya k\u0131sa devre korumas\u0131 ise elektromagnet veya solenoidden gelir, y\u00fcksek ar\u0131za ak\u0131m\u0131na milisaniyeler i\u00e7inde yan\u0131t verir ve b\u00f6ylece e\u011frinin k\u0131sa zamanl\u0131 veya anl\u0131k b\u00f6l\u00fcm\u00fcn\u00fc olu\u015fturur.<\/p>\n

Her \u00fcretici taraf\u0131ndan yay\u0131nlanan log-log zaman-ak\u0131m grafi\u011fine bakarsak, termal alan e\u011frinin \u00fcst e\u011fimli k\u0131sm\u0131na kar\u015f\u0131l\u0131k gelirken manyetik alan neredeyse dik olan alt k\u0131sma kar\u015f\u0131l\u0131k gelir. \u00dcretim prati\u011finde, bu iki \u00f6zellik farkl\u0131 ak\u0131mlar, zamanlama toleranslar\u0131 ve bazen farkl\u0131 test tezgahlar\u0131 ile test edilir. \u0130\u015fte uzun gecikme ile k\u0131sa gecikme ayr\u0131m\u0131n\u0131n kayna\u011f\u0131 budur: uzun gecikme karakteristi\u011fi termal bimetali test eder, k\u0131sa gecikme veya anl\u0131k olan manyetik bobini test eder. Bu nedenle, bu iki t\u00fcr\u00fc ayr\u0131 tutmak son derece \u00f6nemlidir.<\/p>\n

Uzun Zamanl\u0131 Gecikme Testi: Termal Kalibrasyonun Temeli<\/h2>\n

Uzun zamanl\u0131 gecikme testi, devre kesici termal kalibrasyonunun<\/strong>. kalbidir. Belirlenen a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck elektrik ak\u0131mlar\u0131 alt\u0131nda bimetalin uygun zamanda aktive oldu\u011funu do\u011frular. IEC 60898-1 standard\u0131na uygun olarak, t\u00fcm testler +30 \u00b0C hava s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131 ko\u015fullar\u0131nda ve so\u011fuk ba\u015flang\u0131\u00e7 noktas\u0131ndan yap\u0131lmal\u0131d\u0131r; ak\u0131m karakteristikleri, B, C ve D e\u011frilerinin t\u00fcm\u00fc i\u00e7in ayn\u0131 kalan a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck\u00fcn \u00fc\u00e7 noktas\u0131 i\u00e7in g\u00f6sterilir.<\/p>\n\n\n\n\n\n\n\n
Ak\u0131m\u0131 test et<\/th>\nGereksinim<\/th>\nKonvansiyonel zaman<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
13 \u00d7 In (konvansiyonel trip yapmayan ak\u0131m)<\/td>\nKonvansiyonel zaman i\u00e7inde trip yapmamal\u0131d\u0131r<\/td>\n\u2265 1 saat (In \u2264 63 A); \u2265 2 saat (In > 63 A)<\/td>\n<\/tr>\n
45 \u00d7 In (konvansiyonel trip yapan ak\u0131m)<\/td>\nKonvansiyonel zaman i\u00e7inde trip yapmal\u0131d\u0131r<\/td>\n< 1 saat (In \u2264 63 A); 63 A)<\/td>\n<\/tr>\n
55 \u00d7 In<\/td>\nBelirtilen aral\u0131kta trip yapmal\u0131d\u0131r<\/td>\n1 s ila 60 s (In \u2264 32 A); 1 s ila 120 s (In > 32 A)<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

\u00c7ift 1.13 \u00d7 ve 1.45 \u00d7, devre kesicinin kabul edilebilir a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck performans\u0131n\u0131n s\u0131n\u0131rlar\u0131n\u0131 belirler; devre kesici yanl\u0131\u015f a\u00e7ma olmadan biraz \u00fczerinde 13% a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fcke dayanmak zorunda iken, geleneksel bir \u015fekilde 45% a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck\u00fc bile kesebilmelidir. Bu fakt\u00f6rler, \u0131s\u0131 e\u011frisinin grafikteki konumunu tan\u0131mlar. . Geleneksel zaman\u0131n 63 A'dan sonra bir saatten iki saate de\u011fi\u015fmesinin tek nedeni, daha b\u00fcy\u00fck kontaklara sahip daha b\u00fcy\u00fck devre kesicilerin \u00e7ok daha b\u00fcy\u00fck \u0131s\u0131 kapasitesine sahip olmas\u0131 ve kararl\u0131 hale gelmesinin daha uzun s\u00fcrmesidir.<\/p>\n

\u00dcretimle ilgili olarak, 2.55 \u00d7 In noktas\u0131 pratikte devre kesiciyi kalibre etmek i\u00e7in kullan\u0131l\u0131r \u00e7\u00fcnk\u00fc geleneksel \u00f6l\u00e7\u00fcmlerde kazan\u0131lan saat yerine kesme s\u00fcresini saniye cinsinden \u00f6l\u00e7meye olanak tan\u0131r. B\u00f6ylece, belirli bir miktarda ak\u0131m devre kesiciden ge\u00e7irilirken a\u00e7ma s\u00fcresi \u00f6l\u00e7\u00fcl\u00fcr ve bu s\u00fcre servo veya operat\u00f6r kullan\u0131larak ayarlan\u0131r. 1.13 \u00d7 ve 1.45 \u00d7 noktalar\u0131yla yap\u0131lan daha zaman al\u0131c\u0131 \u00f6l\u00e7\u00fcmler, yukar\u0131da elde edilen sonu\u00e7lar\u0131 destekler.<\/p>\n

Benlong tam olarak bu a\u015fama i\u00e7in ekipman \u00fcretir. The MCB uzun s\u00fcreli termal kalibrasyon tezgah\u0131<\/a> IEC 60898-1 standard\u0131na uygun a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck testlerini y\u00fcksek stabiliteye sahip ak\u0131m kayna\u011f\u0131 ile \u00e7oklu istasyonlarda ger\u00e7ekle\u015ftirir, yar\u0131 otomatik termal a\u00e7ma kalibrasyon tezgah\u0131 Tip-A<\/a> ve kart tabanl\u0131 karde\u015fi Tip-B<\/a> MCB aileleri aras\u0131nda h\u0131zl\u0131 ge\u00e7i\u015fle programlanabilir a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck kalibrasyonunu y\u00f6netir. IEC 60947-2 standard\u0131na tabi MCCB'ler i\u00e7in referans noktalar de\u011fi\u015fir \u2014 geleneksel a\u00e7mayan ak\u0131m 1.05 \u00d7 In ve geleneksel a\u00e7ma ak\u0131m\u0131 1.3 \u00d7 In olur \u2014 ancak kalibrasyon prensibi de\u011fi\u015fmez.<\/p>\n

K\u0131sa S\u00fcreli Gecikmeli ve Anl\u0131k Testler: B, C ve D'nin Farklar\u0131<\/h2>\n

Gecikme testinin ikinci k\u0131sm\u0131 manyetik eleman\u0131 veya k\u0131sa devre yan\u0131t\u0131n\u0131 de\u011ferlendirir. Bu, m\u00fc\u015fterilerin s\u0131k\u00e7a k\u0131sa s\u00fcreli gecikme veya zaman gecikmeli test olarak adland\u0131rd\u0131\u011f\u0131 ve B, C ve D e\u011frilerinin farkl\u0131 davranmaya ba\u015flad\u0131\u011f\u0131 k\u0131s\u0131md\u0131r. Manyetik a\u00e7man\u0131n ger\u00e7ekle\u015fti\u011fi seviye, anl\u0131k 0.1 saniye konvansiyonuna g\u00f6re devre kesiciyi a\u00e7mak i\u00e7in gereken nominal ak\u0131m miktar\u0131 ile tan\u0131mlan\u0131r. E\u011fri tipine kar\u015f\u0131l\u0131k gelen daha d\u00fc\u015f\u00fck kat say\u0131, devre kesicinin hizmette kalmas\u0131 gereken ak\u0131m\u0131 g\u00f6sterirken, daha y\u00fcksek kat say\u0131 devre kesicinin a\u00e7mas\u0131 gereken ak\u0131m\u0131 belirtir.<\/p>\n\n\n\n\n\n\n\n
E\u011fri tipi<\/th>\n1 s i\u00e7inde a\u00e7mamal\u0131d\u0131r<\/th>\n1 s i\u00e7inde a\u00e7mal\u0131d\u0131r<\/th>\nTipik uygulama<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
B Tipi<\/td>\n3 \u00d7 \u0130\u00e7inde<\/td>\n5 \u00d7 \u0130\u00e7inde<\/td>\nDiren\u00e7li y\u00fckler, uzun kablo hatlar\u0131, ayd\u0131nlatma<\/td>\n<\/tr>\n
C Tipi<\/td>\n5 \u00d7 \u0130\u00e7inde<\/td>\n10 \u00d7 \u0130\u00e7inde<\/td>\nGenel prizler, k\u00fc\u00e7\u00fck motorlar, kar\u0131\u015f\u0131k y\u00fckler<\/td>\n<\/tr>\n
D Tipi<\/td>\n10 \u00d7 \u0130\u00e7inde<\/td>\n20 \u00d7 \u0130\u00e7inde<\/td>\nY\u00fcksek ba\u015flang\u0131\u00e7 ak\u0131ml\u0131 y\u00fckler: trafolar, b\u00fcy\u00fck motorlar<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

Test, e\u011fri t\u00fcr\u00fcne g\u00f6re iki a\u015famada ger\u00e7ekle\u015ftirilir. \u0130lk olarak, bir tutma testi, kesicinin alt katmanda \u2014 B i\u00e7in 3 \u00d7 In, C i\u00e7in 5 \u00d7 In, D i\u00e7in 10 \u00d7 In \u2014 0,1 s i\u00e7inde atmad\u0131\u011f\u0131n\u0131 do\u011frular. Ard\u0131ndan, bir atma testi, \u00fcst katmanda \u2014 s\u0131ras\u0131yla 5, 10 ve 20 \u00d7 In \u2014 0,1 s i\u00e7inde att\u0131\u011f\u0131n\u0131 do\u011frular. Bir Tip C 16 A kesici al\u0131n: anl\u0131k atma olmadan 80 A (5 \u00d7) \u00fczerinden ge\u00e7meli, ancak 160 A (10 \u00d7) de neredeyse hemen a\u00e7\u0131lmal\u0131d\u0131r. Ayn\u0131 16 A kesici Tip B\u2019de 80 A\u2019da an\u0131nda atar, Tip D\u2019de ise manyetik etki g\u00f6stermeden \u00f6nce 320 A\u2019ya kadar dayan\u0131r. Bu fark, e\u011fri se\u00e7iminin giri\u015f ak\u0131m tolerans\u0131 ve a\u015fa\u011f\u0131 ak\u0131\u015f koordinasyonunu y\u00f6netmesinin tam nedenidir: D-e\u011frisi, B-e\u011frisinin gereksiz yere ataca\u011f\u0131 bir motor veya trafonun anl\u0131k y\u00fckseli\u015fini tolere eder.<\/p>\n

Test spesifikasyonu yazan herkes i\u00e7in bir nokta vurgulanmaya de\u011ferdir. B, C ve D aras\u0131ndaki ge\u00e7me kriterleri manyetik (anl\u0131k) atmaya aittir, termal a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck atmas\u0131na de\u011fil.<\/span>. Bimetalik taraf, ger\u00e7ek termal kalibrasyon, \u00fc\u00e7 e\u011fri i\u00e7in ayn\u0131d\u0131r. Ve bir MCB\u2019de bu k\u0131sa devre yan\u0131t\u0131 ger\u00e7ek anlamda gecikmeli de\u011fil, anl\u0131kt\u0131r; at\u00f6lyede k\u0131sa s\u00fcreli gecikme ifadesi gev\u015fek kullan\u0131l\u0131r. Ger\u00e7ek, kas\u0131tl\u0131 k\u0131sa s\u00fcreli gecikme band\u0131 yaln\u0131zca ayarlanabilir atma \u00fcniteli MCCB\u2019lerde g\u00f6r\u00fcl\u00fcr, bu konu sonraki b\u00f6l\u00fcmde ele al\u0131nacakt\u0131r. MCB ve k\u00fc\u00e7\u00fck \u00e7er\u00e7eveli MCCB manyetik kontrol\u00fc i\u00e7in Benlong\u2019un MCCB manuel manyetik a\u00e7ma test tezgah\u0131<\/a> \u00f6zel olarak tasarlanm\u0131\u015f, programlanabilir 5\u201310 \u00d7 In ak\u0131m kayna\u011f\u0131 ve milisaniye seviyesinde zamanlama ile net bir ge\u00e7me\/ge\u00e7meme karar\u0131 verir.<\/p>\n

\"\"<\/p>\n

Hangi Standart Uygulan\u0131r: IEC 60898-1, 60947-2 ve 61009<\/h2>\n

Uygun ge\u00e7me kriterleri, \u00fcr\u00fcn\u00fcn sertifikaland\u0131r\u0131ld\u0131\u011f\u0131 standarda ba\u011fl\u0131d\u0131r ve yanl\u0131\u015f uygulama riskler a\u00e7\u0131s\u0131ndan ger\u00e7ek bir tehlike olu\u015fturur. Ev kullan\u0131m\u0131 ve benzeri ortamlar i\u00e7in uygulanan MCB\u2019ler IEC 60898-1 standard\u0131n\u0131 kullan\u0131r ve bu standart B, C, D s\u0131n\u0131fland\u0131rmalar\u0131n\u0131 belirtir. IEC 60947-2 standard\u0131 MCCB\u2019ler ve end\u00fcstriyel devre kesicilerin kullan\u0131m\u0131n\u0131 d\u00fczenler, bu nedenle kendi geleneksel ak\u0131mlar\u0131 (1,05 \u00d7 ve 1,3 \u00d7 In) ve daha esnek \u00f6zellikleri vard\u0131r. IEC 61009-1 standard\u0131, art\u0131k ak\u0131m testlerine tabi olan ve termal ve manyetik i\u015flemler i\u00e7in MCB\u2019lerle ayn\u0131 testlerden ge\u00e7mesi gereken art\u0131k ak\u0131m devre kesicileri (RCBO) d\u00fczenler. Tek bir anahtar her iki standarda g\u00f6re sertifikaland\u0131r\u0131labilir, ancak kullan\u0131lan standartlara ba\u011fl\u0131 olarak s\u0131cakl\u0131k referans\u0131 farkl\u0131 d\u00fczenlenebilir.<\/p>\n

Referans s\u0131cakl\u0131k fakt\u00f6rlerden biridir. IEC 60898-1\u2019e g\u00f6re kalibrasyon 30 \u00b0C\u2019de yap\u0131l\u0131rken, IEC 60947-2 uyumlu cihazlar 40 \u00b0C\u2019de test edilir. Ayn\u0131 cihaz, belirtilen standartlar\u0131n her biri i\u00e7in farkl\u0131 s\u0131cakl\u0131k seviyeleri kullan\u0131larak test edilebilir. Referans s\u0131cakl\u0131k, t\u00fcketiciler taraf\u0131ndan kullan\u0131lan derating tablosunu da etkiler, bu nedenle kesici yanl\u0131\u015f referans kullan\u0131larak test edildiyse standart testleri ge\u00e7tikten sonra ba\u015far\u0131s\u0131z olabilir. Bu nedenle, test s\u0131ras\u0131nda s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131n sabitlenmesi sadece bir laboratuvar formalitesi de\u011fil, ayn\u0131 zamanda kesin bir kalite gereksinimidir.<\/p>\n

MCCB Termal Kalibrasyonu ve LSI(G) Gecikme Bantlar\u0131<\/h2>\n

Kal\u0131planm\u0131\u015f kutu devre kesiciler karma\u015f\u0131kl\u0131k katman\u0131 ekler. Daha k\u00fc\u00e7\u00fck termal-manyetik MCCB'ler, a\u015f\u0131r\u0131 y\u00fck band\u0131 i\u00e7in bir bimetali keserek ve k\u0131sa devre tripini do\u011frulamak i\u00e7in solenoidi kontrol ederek MCB'ler gibi kalibre edilir. Ancak bir\u00e7ok modern MCCB elektronik trip \u00fcniteleri kullan\u0131r ve burada MCCB termal kalibrasyonu<\/strong> metal b\u00fckmek yerine programlanabilir koruma parametrelerinin ayarlanmas\u0131 ve do\u011frulanmas\u0131 meselesi haline gelir. Bu trip \u00fcniteleri genellikle LSI veya LSIG \u015femas\u0131 ile tan\u0131mlan\u0131r ve her harf ayr\u0131 ayr\u0131 ayarlanabilir bir koruma band\u0131n\u0131 temsil eder:<\/p>\n