{"id":67,"date":"2026-06-01T10:37:59","date_gmt":"2026-06-01T10:37:59","guid":{"rendered":"https:\/\/khkrh7q1ur.wpdns.site\/product\/electric-meter-aging-test-bench\/"},"modified":"2026-06-09T23:01:48","modified_gmt":"2026-06-09T23:01:48","slug":"electric-meter-aging-test-bench-product","status":"publish","type":"product","link":"https:\/\/benlongkj.com\/pt\/electric-meter-aging-test-bench-product\/","title":{"rendered":"bancada de testes de envelhecimento de medidores el\u00e9tricos"},"content":{"rendered":"
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IEC\/ANSI \u00b7 Resist\u00eancia 24 horas por dia, 7 dias por semana<\/div>\n

Bancada de testes de envelhecimento de medidores de eletricidade trif\u00e1sicos para confiabilidade de medidores inteligentes<\/h1>\n

Este testador el\u00e9trico, com confiabilidade comprovada, foi projetado especificamente para testar milhares de medidores inteligentes trif\u00e1sicos multifuncionais, avaliando sua qualidade geral e durabilidade em aplica\u00e7\u00f5es de alto volume. O testador utiliza a fonte de alimenta\u00e7\u00e3o de precis\u00e3o ZN-D3000 para fornecer cargas de tens\u00e3o\/corrente consistentes, simulando o uso prolongado em campo e mantendo a precis\u00e3o das medi\u00e7\u00f5es e a integridade estrutural durante a aplica\u00e7\u00e3o de carga est\u00e1tica cont\u00ednua. O equipamento foi projetado para suportar m\u00faltiplos processos de envelhecimento simult\u00e2neos, utilizando conectores modulares montados no rack vertical do medidor, tornando-se uma solu\u00e7\u00e3o de teste de alt\u00edssima densidade.<\/p>\n

Como parte do seu processo cont\u00ednuo de medi\u00e7\u00e3o, o sistema monitora quaisquer altera\u00e7\u00f5es em indicadores-chave, como rigidez diel\u00e9trica, ac\u00famulo de registros (teste de caminhada) e estabilidade do protocolo de comunica\u00e7\u00e3o (IEC 62056 \u2013 21, DLMS\/COSEM). A interface de controle pode ser usada para ajustar o \u00e2ngulo de fase, a distor\u00e7\u00e3o harm\u00f4nica e os n\u00edveis de carga com maior precis\u00e3o. O registro de dados em tempo real e a prote\u00e7\u00e3o autom\u00e1tica contra desligamento permitem testes seguros e a manuten\u00e7\u00e3o de registros hist\u00f3ricos durante um per\u00edodo de teste 24 horas por dia, 7 dias por semana. Este robusto regime de testes atende ou supera os padr\u00f5es internacionais de teste (IEC, ANSI) e garante uma vida \u00fatil de 15 anos em condi\u00e7\u00f5es extremas. Ao melhorar a taxa de mortalidade infantil de dispositivos eletr\u00f4nicos, o banco de testes proporciona precis\u00e3o de faturamento a longo prazo.<\/p>\n

Entrega padr\u00e3o: 45 a 60 dias | Fonte de alimenta\u00e7\u00e3o ZN-D3000 | Rack vertical de alta densidade<\/span><\/p>\n<\/p><\/div>\n

\n \"bancada<\/p>\n
Esta\u00e7\u00e3o de teste de envelhecimento de medidores trif\u00e1sicos (produto real)<\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n
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O que \u00e9 uma bancada de testes de envelhecimento de medidores el\u00e9tricos?<\/h2>\n

Uma bancada de testes de envelhecimento para medidores de energia el\u00e9trica foi projetada para realizar testes acelerados de ciclo de vida (burn-in) de medidores de energia monof\u00e1sicos e trif\u00e1sicos, utilizando tens\u00f5es e correntes controladas sob condi\u00e7\u00f5es ambientais estabelecidas (temperatura ambiente). Ao aplicar a tens\u00e3o e a corrente nominais por um per\u00edodo prolongado (horas a dias), \u00e9 poss\u00edvel identificar falhas prematuras em componentes eletr\u00f4nicos, juntas de solda e pe\u00e7as mec\u00e2nicas. A bancada de testes \u00e9 utilizada com uma fonte de alimenta\u00e7\u00e3o program\u00e1vel de alta precis\u00e3o (por exemplo, ZN-D3000), um rack de montagem de medidores de alta densidade com conectores modulares e um software de registro de dados. A bancada coleta dados para testes de funcionamento (ou seja, acumula\u00e7\u00e3o de registros), estabilidade de comunica\u00e7\u00e3o e rigidez diel\u00e9trica durante o ciclo de envelhecimento do medidor. O sistema de bancada de testes de envelhecimento tamb\u00e9m ajudar\u00e1 a reduzir a taxa de mortalidade precoce de medidores inteligentes e garantir\u00e1 a conformidade com as normas IEC 62053-11\/22, ANSI C12 ou requisitos espec\u00edficos de confiabilidade do cliente. Por se tratar de uma solu\u00e7\u00e3o personalizada e n\u00e3o padronizada, este sistema ser\u00e1 adaptado ao formato espec\u00edfico do seu medidor, ao n\u00famero de posi\u00e7\u00f5es (por exemplo, 24, 48 ou 96 medidores) e aos protocolos de comunica\u00e7\u00e3o.<\/p>\n

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\n Fonte de alimenta\u00e7\u00e3o de precis\u00e3o ZN-D3000<\/strong>
\n Sincroniza\u00e7\u00e3o de tens\u00e3o e corrente trif\u00e1sicas, com amplitude, fase e harm\u00f4nicos ajust\u00e1veis.\n <\/div>\n
\n Rack vertical de alta densidade<\/strong>
\n Conectores modulares para teste simult\u00e2neo de m\u00faltiplos medidores (24 a 96 posi\u00e7\u00f5es).\n <\/div>\n
\n Monitoramento em tempo real<\/strong>
\n Rigidez diel\u00e9trica, acumula\u00e7\u00e3o de registros, estabilidade do protocolo de comunica\u00e7\u00e3o.\n <\/div>\n
\n Prote\u00e7\u00e3o autom\u00e1tica contra desarmes e registro de dados<\/strong>
\n Prote\u00e7\u00e3o contra sobrecarga e sobretemperatura; exporta\u00e7\u00e3o CSV\/MES para rastreabilidade.\n <\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n
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Recursos de teste e componentes do sistema<\/h2>\n
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\n \"Visibilidade<\/p>\n
Intelig\u00eancia e Visibilidade<\/div>\n<\/p><\/div>\n
\n \"Efici\u00eancia<\/p>\n
Efici\u00eancia e Sustentabilidade<\/div>\n<\/p><\/div>\n
\n \"Integra\u00e7\u00e3o<\/p>\n
Design e integra\u00e7\u00e3o<\/div>\n<\/p><\/div>\n
\n \"Seguran\u00e7a<\/p>\n
Seguran\u00e7a e confiabilidade<\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n

Especifica\u00e7\u00f5es t\u00e9cnicas<\/h2>\n
Bancada de teste de envelhecimento de medidores trif\u00e1sicos com fonte de precis\u00e3o ZN-D3000. Rack de alta densidade, monitoramento em tempo real (diel\u00e9trico, registrador, comunica\u00e7\u00e3o), prote\u00e7\u00e3o autom\u00e1tica, registro de dados.<\/div>\n
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Modelo de fonte de alimenta\u00e7\u00e3o<\/th>\nZN\u2011D3000 (trif\u00e1sico program\u00e1vel)<\/td>\n<\/tr>\n
Faixa de tens\u00e3o de sa\u00edda<\/th>\n0 \u2013 480 V CA (fase-neutro), ajust\u00e1vel \u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Faixa de sa\u00edda atual<\/th>\n0 \u2013 120 A por fase, program\u00e1vel \u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Faixa de frequ\u00eancia<\/th>\n45 \u2013 65 Hz, precis\u00e3o \u00b10,01 Hz\u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Simula\u00e7\u00e3o harm\u00f4nica<\/th>\n2\u00aa a 21\u00aa ordem, amplitude\/fase program\u00e1vel \u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
N\u00famero de posi\u00e7\u00f5es do medidor<\/th>\nPadr\u00e3o 24, 48 ou 96 (personaliz\u00e1vel) \u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Protocolos de comunica\u00e7\u00e3o<\/th>\nRS485 (Modbus, DLMS\/COSEM), porta \u00f3ptica, sa\u00edda de pulso \u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Par\u00e2metros de monitoramento<\/th>\nAcumula\u00e7\u00e3o de registros (teste de caminhada), rigidez diel\u00e9trica, erros de comunica\u00e7\u00e3o, temperatura \u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Recursos de prote\u00e7\u00e3o<\/th>\nSobrecarga, sobretemperatura, curto-circuito, desarme autom\u00e1tico \u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Fonte de energia<\/th>\n380V \u00b110% 50Hz (principal) | Controle: 220V\u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table><\/div>\n

Principais vantagens t\u00e9cnicas<\/h2>\n
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O envelhecimento paralelo de alta densidade reduz o tempo de ciclo.<\/h4>\n

Com at\u00e9 96 posi\u00e7\u00f5es de medi\u00e7\u00e3o, a bancada acelera significativamente os testes de envelhecimento acelerado. Cada posi\u00e7\u00e3o \u00e9 monitorada independentemente, permitindo a qualifica\u00e7\u00e3o de lotes sem reduzir a produtividade.\n <\/p><\/div>\n

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Fonte de precis\u00e3o ZN\u2011D3000 para simula\u00e7\u00e3o realista de grades<\/h4>\n

A fonte de alimenta\u00e7\u00e3o integrada fornece tens\u00e3o e corrente trif\u00e1sicas sincronizadas com \u00e2ngulos de fase, harm\u00f4nicos e n\u00edveis de carga ajust\u00e1veis. Isso simula dist\u00farbios reais na rede el\u00e9trica (quedas de tens\u00e3o, harm\u00f4nicos) que afetam o desempenho do medidor.\n <\/p><\/div>\n

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Comunica\u00e7\u00e3o abrangente e monitoramento de registros<\/h4>\n

Durante o ciclo de envelhecimento, a bancada l\u00ea os registros do medidor via RS485 ou porta \u00f3ptica, verificando se a acumula\u00e7\u00e3o permanece precisa sob estresse cont\u00ednuo. Os erros de comunica\u00e7\u00e3o s\u00e3o registrados para an\u00e1lise da estabilidade do protocolo.\n <\/p><\/div>\n

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Seguran\u00e7a autom\u00e1tica e rastreabilidade de dados<\/h4>\n

A prote\u00e7\u00e3o contra desligamentos em tempo real evita danos causados por falhas no medidor. Todos os dados de teste (registros de tens\u00e3o\/corrente, valores de registro, eventos de erro) s\u00e3o salvos e podem ser exportados para MES ou CSV, proporcionando rastreabilidade completa para auditorias ISO 17025.\n <\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n

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\n Aprovado pelos l\u00edderes do setor<\/span><\/p>\n
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\n \"ABB\"\n <\/div>\n
\n \"DELICIOSO\"\n <\/div>\n
\n \"EKF\"\n <\/div>\n
\n \"KRIPAL\"\n <\/div>\n
\n \"HPL\"\n <\/div>\n
\n \"CHAC\"\n <\/div>\n
\n \"Schneider\"\n <\/div>\n
\n \"GRUPO\n <\/div>\n
\n \"SUNIR\"\n <\/div>\n
\n \"Bevone\"\n <\/div>\n
\n \"Weg\"\n <\/div>\n
\n \"HUYU\"\n <\/div>\n
\n \"RAAD\"\n <\/div>\n
\n \"WALTONE\"\n <\/div>\n
\n \"HAVELLS\"\n <\/div>\n
\n \"C&S\n <\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n
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Caso de sucesso do cliente \u2013 Fabricante de medidores inteligentes<\/h3>\n

Um importante fabricante de medidores inteligentes precisava reduzir a taxa de falhas em campo de seus medidores trif\u00e1sicos devido \u00e0 falha prematura de componentes eletr\u00f4nicos (mortalidade infantil). Para atender a essa necessidade, a Benlong forneceu uma bancada de testes de envelhecimento de medidores com 96 posi\u00e7\u00f5es, equipada com uma fonte de alimenta\u00e7\u00e3o ZN-D3000 e um sistema de monitoramento de registros em tempo real. Seis meses ap\u00f3s a instala\u00e7\u00e3o dessas bancadas de testes:<\/p>\n

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80%<\/strong> Redu\u00e7\u00e3o de falhas prematuras em campo<\/div>\n
96 metros<\/strong> Envelhecido simultaneamente (24 horas por dia, 7 dias por semana)<\/div>\n
100%<\/strong> Rastreabilidade para auditorias de servi\u00e7os p\u00fablicos<\/div>\n<\/p><\/div>\n

Em menos de 10 meses ap\u00f3s a instala\u00e7\u00e3o, o cliente p\u00f4de se beneficiar da economia de custos proporcionada pela bancada, garantindo um importante contrato com uma concession\u00e1ria de servi\u00e7os p\u00fablicos que exigia conformidade com a norma IEC 62053-22.<\/p>\n<\/p><\/div>\n

Aplica\u00e7\u00f5es e Integra\u00e7\u00e3o<\/h2>\n
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Fabrica\u00e7\u00e3o de medidores inteligentes<\/strong> \u2013 Teste de envelhecimento acelerado para medidores monof\u00e1sicos e trif\u00e1sicos<\/div>\n
laborat\u00f3rios de medi\u00e7\u00e3o de servi\u00e7os p\u00fablicos<\/strong> \u2013 Testes de resist\u00eancia para certifica\u00e7\u00e3o de medidores<\/div>\n
Departamentos de garantia da qualidade<\/strong> \u2013 Verifica\u00e7\u00e3o rotineira de confiabilidade<\/div>\n
Valida\u00e7\u00e3o de P&D<\/strong> \u2013 Testes de estresse em novos projetos de medidores<\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n

Engenharia e entrega personalizadas<\/h2>\n
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1. Especifica\u00e7\u00f5es do medidor e projeto do rack<\/strong> 15 a 30 dias \u00b7 dimens\u00f5es do metro, n\u00famero de posi\u00e7\u00f5es<\/div>\n
2. Configura\u00e7\u00e3o da fonte de alimenta\u00e7\u00e3o e do software<\/strong> 15 a 25 dias \u00b7 Integra\u00e7\u00e3o e configura\u00e7\u00e3o de comunica\u00e7\u00e3o do ZN-D3000<\/div>\n
3. Fabrica\u00e7\u00e3o<\/strong> 45-60 dias<\/div>\n
4. Pr\u00e9-gordura<\/strong> Na f\u00e1brica de Benlong<\/div>\n
5. Instala\u00e7\u00e3o e treinamento<\/strong> Entre 5 e 7 dias \u00fateis<\/div>\n
6. SAT final<\/strong> 5 a 7 dias \u00b7 relat\u00f3rio de aceita\u00e7\u00e3o<\/div>\n<\/p><\/div>\n
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Solicite um or\u00e7amento personalizado para um banco de testes de envelhecimento de medidores el\u00e9tricos.<\/h2>\n

Forne\u00e7a-nos as especifica\u00e7\u00f5es do seu medidor, a quantidade de posi\u00e7\u00f5es de teste e o protocolo de comunica\u00e7\u00e3o. Nossos engenheiros projetar\u00e3o para voc\u00ea uma bancada de envelhecimento personalizada, utilizando nossa fonte de alimenta\u00e7\u00e3o ZN-D3000 com registro completo de dados, al\u00e9m de um relat\u00f3rio abrangente de retorno sobre o investimento (ROI).<\/p>\n

Consulte agora<\/a><\/p>\n

WhatsApp: +86 150 5837 0007 | E-mail: xsb@benlongkj.cn | Suporte em ingl\u00eas e chin\u00eas<\/p>\n<\/p><\/div>\n

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Por que escolher a Benlong para bancadas de envelhecimento de medidores?<\/h3>\n