{"id":67,"date":"2026-06-01T10:37:59","date_gmt":"2026-06-01T10:37:59","guid":{"rendered":"https:\/\/khkrh7q1ur.wpdns.site\/product\/electric-meter-aging-test-bench\/"},"modified":"2026-06-09T23:01:48","modified_gmt":"2026-06-09T23:01:48","slug":"electric-meter-aging-test-bench-product","status":"publish","type":"product","link":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/electric-meter-aging-test-bench-product\/","title":{"rendered":"Banc d'essai de vieillissement des compteurs \u00e9lectriques"},"content":{"rendered":"
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IEC\/ANSI \u00b7 Autonomie 24h\/24 et 7j\/7<\/div>\n

Banc d'essai de vieillissement des compteurs triphas\u00e9s pour la fiabilit\u00e9 des compteurs intelligents<\/h1>\n

Ce testeur \u00e9lectrique, dont la fiabilit\u00e9 a \u00e9t\u00e9 \u00e9prouv\u00e9e, a \u00e9t\u00e9 sp\u00e9cialement con\u00e7u pour tester des milliers de compteurs intelligents multifonctions triphas\u00e9s afin d'en \u00e9valuer la qualit\u00e9 et la durabilit\u00e9 globales dans des applications \u00e0 grand volume. Il utilise l'alimentation de pr\u00e9cision ZN-D3000 pour fournir des charges de tension\/courant constantes, simulant ainsi une utilisation prolong\u00e9e sur le terrain et garantissant la pr\u00e9cision des mesures et l'int\u00e9grit\u00e9 structurelle sous charge statique continue. Con\u00e7u pour prendre en charge plusieurs processus de vieillissement simultan\u00e9s gr\u00e2ce \u00e0 des connecteurs modulaires mont\u00e9s sur le rack vertical du compteur, ce testeur constitue une solution de test \u00e0 tr\u00e8s haute densit\u00e9.<\/p>\n

Dans le cadre de son processus de mesure continu, le syst\u00e8me surveille toute variation des indicateurs cl\u00e9s, tels que la rigidit\u00e9 di\u00e9lectrique, l'accumulation des registres (test de marche) et la stabilit\u00e9 du protocole de communication (IEC 62056-21, DLMS\/COSEM). L'interface de contr\u00f4le permet un r\u00e9glage pr\u00e9cis de l'angle de phase, de la distorsion harmonique et des niveaux de charge. L'enregistrement des donn\u00e9es en temps r\u00e9el et la protection automatique contre les d\u00e9clenchements intempestifs garantissent la s\u00e9curit\u00e9 des tests et la conservation des donn\u00e9es historiques 24 h\/24 et 7 j\/7. Ce protocole de test rigoureux respecte, voire d\u00e9passe, les normes internationales (IEC, ANSI) et garantit une dur\u00e9e de vie de 15 ans, m\u00eame dans des conditions extr\u00eames. En r\u00e9duisant le taux de d\u00e9faillance pr\u00e9coce des composants \u00e9lectroniques, le banc d'essai assure une facturation pr\u00e9cise \u00e0 long terme.<\/p>\n

Livraison standard\u00a0: 45 \u00e0 60\u00a0jours | Alimentation ZN-D3000 | Rack vertical haute densit\u00e9<\/span><\/p>\n<\/p><\/div>\n

\n \"Banc<\/p>\n
Banc d'essai de vieillissement de compteur triphas\u00e9 (produit r\u00e9el)<\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n
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Qu'est-ce qu'un banc d'essai de vieillissement de compteurs \u00e9lectriques\u00a0?<\/h2>\n

Un banc d'essai de vieillissement pour compteurs \u00e9lectriques est con\u00e7u pour r\u00e9aliser des tests de rodage acc\u00e9l\u00e9r\u00e9s sur les compteurs d'\u00e9nergie monophas\u00e9s et triphas\u00e9s, sous tensions et courants contr\u00f4l\u00e9s et dans des conditions environnementales \u00e9tablies (temp\u00e9rature ambiante). L'application de la tension et du courant nominaux pendant une dur\u00e9e prolong\u00e9e (de plusieurs heures \u00e0 plusieurs jours) permet de d\u00e9tecter les d\u00e9faillances pr\u00e9coces des composants \u00e9lectroniques, des soudures et des pi\u00e8ces m\u00e9caniques. Ce banc d'essai est \u00e9quip\u00e9 d'une alimentation programmable de haute pr\u00e9cision (par exemple, ZN-D3000), d'un rack de montage de compteurs haute densit\u00e9 avec connecteurs modulaires et d'un logiciel d'acquisition de donn\u00e9es. Il collecte des donn\u00e9es pour les tests de fonctionnement (accumulation des registres), la stabilit\u00e9 de la communication et la rigidit\u00e9 di\u00e9lectrique durant le cycle de vieillissement du compteur. Ce syst\u00e8me de banc d'essai de vieillissement contribue \u00e9galement \u00e0 r\u00e9duire le taux de d\u00e9faillance pr\u00e9coce des compteurs intelligents et garantit la conformit\u00e9 aux normes IEC 62053-11\/22, ANSI C12 et aux exigences de fiabilit\u00e9 sp\u00e9cifiques du client. En tant que solution personnalis\u00e9e non standard, ce syst\u00e8me sera adapt\u00e9 au format sp\u00e9cifique de votre compteur, au nombre de positions (par exemple, 24, 48, 96 compteurs) et aux protocoles de communication.<\/p>\n

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\n Source d'alimentation de pr\u00e9cision ZN\u2011D3000<\/strong>
\n Tension et courant triphas\u00e9s synchronis\u00e9s, amplitude, phase et harmoniques r\u00e9glables.\n <\/div>\n
\n Rayonnage vertical haute densit\u00e9<\/strong>
\n Connecteurs modulaires pour le test simultan\u00e9 de plusieurs compteurs (24\u200996 positions).\n <\/div>\n
\n Surveillance en temps r\u00e9el<\/strong>
\n Rigidit\u00e9 di\u00e9lectrique, accumulation des registres, stabilit\u00e9 du protocole de communication.\n <\/div>\n
\n Protection automatique contre les d\u00e9clenchements et enregistrement des donn\u00e9es<\/strong>
\n Protection contre les surcharges et les surchauffes ; exportation CSV\/MES pour la tra\u00e7abilit\u00e9.\n <\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n
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Fonctionnalit\u00e9s de test et composants du syst\u00e8me<\/h2>\n
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\n \"Visibilit\u00e9<\/p>\n
Renseignements et visibilit\u00e9<\/div>\n<\/p><\/div>\n
\n \"Durabilit\u00e9<\/p>\n
Efficacit\u00e9 et durabilit\u00e9<\/div>\n<\/p><\/div>\n
\n \"Int\u00e9gration<\/p>\n
Conception et int\u00e9gration<\/div>\n<\/p><\/div>\n
\n \"Fiabilit\u00e9<\/p>\n
S\u00e9curit\u00e9 et fiabilit\u00e9<\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n

Sp\u00e9cifications techniques<\/h2>\n
Banc d'essai de vieillissement pour compteurs triphas\u00e9s avec source de pr\u00e9cision ZN-D3000. Baie haute densit\u00e9, surveillance en temps r\u00e9el (di\u00e9lectrique, registre, communication), protection automatique, enregistrement des donn\u00e9es.<\/div>\n
\n\n\n\n\n\n <\/tr>\n\n\n\n\n\n <\/tr>\n\n\n\n\n
Mod\u00e8le de source d'alimentation<\/th>\nZN\u2011D3000 (triphas\u00e9 programmable)<\/td>\n<\/tr>\n
Plage de tension de sortie<\/th>\n0 \u2013 480 V CA (phase-neutre), r\u00e9glable\u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Plage de sortie actuelle<\/th>\n0 \u2013 120 A par phase, programmable\u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Gamme de fr\u00e9quences<\/th>\n45 \u2013 65 Hz, pr\u00e9cision \u00b10,01 Hz\u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Simulation harmonique<\/th>\n2e \u2013 21e ordre, amplitude\/phase programmable\u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Nombre de positions de compteur<\/th>\nStandard 24, 48 ou 96 (personnalisable) \u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Protocoles de communication<\/th>\nRS485 (Modbus, DLMS\/COSEM), port optique, sortie d'impulsions\u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Param\u00e8tres de surveillance<\/th>\nAccumulation des registres (test de marche), rigidit\u00e9 di\u00e9lectrique, erreurs de communication, temp\u00e9rature\u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Caract\u00e9ristiques de protection<\/th>\nSurcharge, surchauffe, court-circuit, d\u00e9clenchement automatique \u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n
Alimentation \u00e9lectrique<\/th>\n380 V \u00b1101 V TP3T 50 Hz (principal) | Commande : 220 V\u2013\n <\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table><\/div>\n

Principaux avantages techniques<\/h2>\n
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Le vieillissement parall\u00e8le \u00e0 haute densit\u00e9 r\u00e9duit la dur\u00e9e du cycle<\/h4>\n

Avec jusqu'\u00e0 96 positions de mesure, le banc acc\u00e9l\u00e8re consid\u00e9rablement les tests de rodage. Chaque position est surveill\u00e9e ind\u00e9pendamment, permettant la qualification des lots sans r\u00e9duire le d\u00e9bit.\n <\/p><\/div>\n

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Source de pr\u00e9cision ZN\u2011D3000 pour une simulation de r\u00e9seau r\u00e9aliste<\/h4>\n

La source d'alimentation int\u00e9gr\u00e9e fournit une tension et un courant triphas\u00e9s synchronis\u00e9s, avec des angles de phase, des harmoniques et des niveaux de charge ajustables. Ceci simule les perturbations r\u00e9elles du r\u00e9seau (creux de tension, harmoniques) qui affectent les performances du compteur.\n <\/p><\/div>\n

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Communication compl\u00e8te et surveillance des registres<\/h4>\n

Le banc d'essai effectue des lectures des registres de comptage via RS485 ou port optique pendant le cycle de vieillissement, v\u00e9rifiant ainsi la pr\u00e9cision de l'accumulation sous contrainte continue. Les erreurs de communication sont enregistr\u00e9es pour l'analyse de la stabilit\u00e9 du protocole.\n <\/p><\/div>\n

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S\u00e9curit\u00e9 automatique et tra\u00e7abilit\u00e9 des donn\u00e9es<\/h4>\n

La protection contre les d\u00e9clenchements en temps r\u00e9el pr\u00e9vient les dommages dus \u00e0 une d\u00e9faillance du compteur. Toutes les donn\u00e9es de test (enregistrements de tension\/courant, valeurs des registres, \u00e9v\u00e9nements d'erreur) sont sauvegard\u00e9es et peuvent \u00eatre export\u00e9es vers un syst\u00e8me MES ou au format CSV, assurant une tra\u00e7abilit\u00e9 compl\u00e8te pour les audits ISO 17025.\n <\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n

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\n Reconnue par les leaders du secteur<\/span><\/p>\n
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\n \"ABB\"\n <\/div>\n
\n \"D\u00c9LICI\"\n <\/div>\n
\n \"EKF\"\n <\/div>\n
\n \"KRIPAL\"\n <\/div>\n
\n \"HPL\"\n <\/div>\n
\n \"CHAC\"\n <\/div>\n
\n \"Schneider\"\n <\/div>\n
\n \"Groupe\n <\/div>\n
\n \"SUNIR\"\n <\/div>\n
\n \"Bevone\"\n <\/div>\n
\n \"Weg\"\n <\/div>\n
\n \"HUYU\"\n <\/div>\n
\n \"RAAD\"\n <\/div>\n
\n \"WALTONE\"\n <\/div>\n
\n \"HAVELLS\"\n <\/div>\n
\n \"C&S\n <\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n
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T\u00e9moignage client \u2013 Fabricant de compteurs intelligents<\/h3>\n

Un important fabricant de compteurs intelligents souhaitait r\u00e9duire le taux de d\u00e9faillance sur le terrain de ses compteurs triphas\u00e9s, d\u00fb \u00e0 la d\u00e9faillance pr\u00e9coce de composants \u00e9lectroniques (mortalit\u00e9 infantile). Pour r\u00e9pondre \u00e0 ce besoin, Benlong a fourni un banc d'essai de vieillissement de compteurs \u00e0 96 positions, \u00e9quip\u00e9 d'une alimentation ZN-D3000 et d'un syst\u00e8me de surveillance en temps r\u00e9el. Six mois apr\u00e8s l'installation de ces bancs d'essai\u00a0:<\/p>\n

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80%<\/strong> R\u00e9duction des d\u00e9faillances pr\u00e9coces sur le terrain<\/div>\n
96 m\u00e8tres<\/strong> Vieillis simultan\u00e9ment (24h\/24 et 7j\/7)<\/div>\n
100%<\/strong> Tra\u00e7abilit\u00e9 pour les audits des services publics<\/div>\n<\/p><\/div>\n

Moins de 10 mois apr\u00e8s l'installation, le client a pu b\u00e9n\u00e9ficier des \u00e9conomies r\u00e9alis\u00e9es gr\u00e2ce au banc en obtenant un important contrat de service public qui exigeait la conformit\u00e9 \u00e0 la norme IEC 62053-22.<\/p>\n<\/p><\/div>\n

Applications et int\u00e9gration<\/h2>\n
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fabrication de compteurs intelligents<\/strong> \u2013 Tests de rodage pour les compteurs monophas\u00e9s et triphas\u00e9s<\/div>\n
laboratoires de comptage des services publics<\/strong> \u2013 Tests d'endurance pour la certification des compteurs<\/div>\n
services d'assurance qualit\u00e9<\/strong> \u2013 V\u00e9rification de fiabilit\u00e9 de routine<\/div>\n
Validation de la R&D<\/strong> \u2013 Tests de r\u00e9sistance des nouveaux mod\u00e8les de compteurs<\/div>\n<\/p><\/div>\n<\/p><\/div>\n

Ing\u00e9nierie et livraison sur mesure<\/h2>\n
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1. Sp\u00e9cifications du compteur et conception du rack<\/strong> 15 \u00e0 30 jours \u00b7 dimensions du m\u00e8tre, nombre de positions<\/div>\n
2. Configuration de l'alimentation et du logiciel<\/strong> 15 \u00e0 25 jours \u00b7 Int\u00e9gration du ZN-D3000, configuration de la communication<\/div>\n
3. Fabrication<\/strong> 45 \u00e0 60 jours<\/div>\n
4. Pr\u00e9-FAT<\/strong> \u00c0 l'usine de Benlong<\/div>\n
5. Installation et formation<\/strong> Livraison sous 5 \u00e0 7 jours<\/div>\n
6. SAT final<\/strong> 5 \u00e0 7 jours \u00b7 rapport de r\u00e9ception<\/div>\n<\/p><\/div>\n
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Demandez un devis pour un banc d'essai de vieillissement de compteurs \u00e9lectriques personnalis\u00e9<\/h2>\n

Veuillez nous indiquer les sp\u00e9cifications de votre appareil de mesure, le nombre de points de test et le protocole de communication. Nos ing\u00e9nieurs vous fourniront un banc de vieillissement sur mesure, utilisant notre source d'alimentation ZN-D3000 avec enregistrement complet des donn\u00e9es, ainsi qu'un rapport d\u00e9taill\u00e9 sur le retour sur investissement.<\/p>\n

Renseignez-vous d\u00e8s maintenant<\/a><\/p>\n

WhatsApp\u00a0: +86\u00a0150\u00a05837\u00a00007 | Courriel\u00a0: xsb@benlongkj.cn | Assistance en anglais et en chinois<\/p>\n<\/p><\/div>\n

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Pourquoi choisir Benlong pour les bancs de vieillissement des compteurs ?<\/h3>\n