{"id":2024,"date":"2026-11-02T16:50:26","date_gmt":"2026-11-02T16:50:26","guid":{"rendered":"https:\/\/benlongkj.com\/?p=2024"},"modified":"2026-11-02T16:56:54","modified_gmt":"2026-11-02T16:56:54","slug":"what-is-automatic-test-equipment-2","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/blog\/what-is-automatic-test-equipment-2\/","title":{"rendered":"Qu'est-ce que l'\u00e9quipement de test automatique ?"},"content":{"rendered":"

La d\u00e9finition signifie \u00e9galement une industrie des semi-conducteurs de $15 milliards et un centre de test dans une usine de disjoncteurs o\u00f9 600 tests sont effectu\u00e9s \u00e0 chaque fois. Ces deux entit\u00e9s peuvent \u00eatre appel\u00e9es testeurs automatiques, mais elles sont essentiellement la m\u00eame chose, d'o\u00f9 la n\u00e9cessit\u00e9 de savoir comment le type d'acheteur peut influencer la compr\u00e9hension du terme.<\/p>\n

De plus, il convient de mentionner que l'ATE est abord\u00e9 en incluant toutes les sph\u00e8res d'utilisation, de fonctionnement et les caract\u00e9ristiques de l'\u00e9quipement, ainsi que la mani\u00e8re de l'utiliser pour faire un choix correct lors de l'achat de l'\u00e9quipement appropri\u00e9.<\/p>\n

En r\u00e9sum\u00e9, nous avons la machine de test, g\u00e9n\u00e9ralement connue sous le nom d\u2019ATE, qui est d\u00e9finie comme tout appareil fournissant une entr\u00e9e au produit, mesurant la r\u00e9ponse et indiquant si elle est acceptable ou non sans intervention de l\u2019op\u00e9rateur. Le secteur cl\u00e9 de ce march\u00e9 est l\u2019ATE pour semi-conducteurs, r\u00e9alis\u00e9 par deux entreprises : Advantest et Teradyne, qui repr\u00e9sentent environ 86% de l\u2019ensemble du march\u00e9. Il existe un autre type bas\u00e9 sur l\u2019\u00e9lectricit\u00e9.<\/p><\/blockquote>\n

\"Qu'est-ce<\/p>\n

Ce qu\u2019est r\u00e9ellement l\u2019\u00e9quipement de test automatique<\/h2>\n

Pour faire simple, il y a quatre fonctions : il g\u00e9n\u00e8re le stimulus, qu\u2019il s\u2019agisse de tension, courant, signal RF, temp\u00e9rature ou mouvement. Il applique le stimulus \u00e0 l\u2019\u00e9l\u00e9ment test\u00e9 (DUT). Il mesure la r\u00e9ponse en utilisant un appareil de pr\u00e9cision connue. Et il compare le r\u00e9sultat \u00e0 la limite et enregistre le verdict.<\/p>\n

Ce qui est important, c\u2019est le mot \u2018 automatis\u00e9 \u2019. Un multim\u00e8tre et un technicien exp\u00e9riment\u00e9 peuvent effectuer les quatre fonctions mais \u00e0 une vitesse lente. L\u2019ATE existe parce que dans le quatri\u00e8me cas, il y a une intervention humaine tandis que dans le troisi\u00e8me cas, la fiabilit\u00e9 est perdue apr\u00e8s plusieurs centaines de r\u00e9p\u00e9titions.<\/p>\n

Ensuite, nous pouvons d\u00e9finir la cat\u00e9gorie par ce qu\u2019elle n\u2019est pas. L\u2019ATE n\u2019est d\u00e9finitivement pas un enregistreur de donn\u00e9es puisqu\u2019il prend une d\u00e9cision. L\u2019ATE n\u2019est pas un instrument de banc puisqu\u2019il ex\u00e9cute la s\u00e9quence. Ce n\u2019est pas non plus une proc\u00e9dure de test bien que tout syst\u00e8me ATE en contienne une sans exception.<\/p>\n

Les industries qui ach\u00e8tent de l\u2019ATE, et ce que chacune teste<\/h2>\n

Six secteurs repr\u00e9sentent presque la totalit\u00e9 du march\u00e9, et les diff\u00e9rences entre eux sont plus grandes que les similitudes.<\/p>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
dans<\/th>\nCe qui est test\u00e9<\/th>\nCe que le syst\u00e8me doit faire<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
Semi-conducteurs<\/td>\nPuces, CI emball\u00e9s, m\u00e9moire, SoC<\/td>\nDes milliers de broches \u00e0 gigahertz, parall\u00e9lisme massif<\/td>\n<\/tr>\n
Automobile<\/td>\nECU, capteurs, faisceaux, modules de batterie<\/td>\nSimulation de bus, cycles environnementaux, tra\u00e7abilit\u00e9<\/td>\n<\/tr>\n
A\u00e9rospatiale et d\u00e9fense<\/td>\nUnit\u00e9s rempla\u00e7ables en ligne pour l\u2019avionique<\/td>\nD\u00e9cennies de support, \u00e9talonnage document\u00e9, interfaces reconfigurables<\/td>\n<\/tr>\n
Dispositifs m\u00e9dicaux<\/td>\nMoniteurs, pompes, sous-ensembles d\u2019imagerie<\/td>\nEnregistrements de validation, pistes d\u2019audit, qualification logicielle<\/td>\n<\/tr>\n
T\u00e9l\u00e9communications<\/td>\nModules optiques, frontaux RF, \u00e9quipements r\u00e9seau<\/td>\nConformit\u00e9 aux protocoles, puissance optique et longueur d\u2019onde<\/td>\n<\/tr>\n
\u00c9lectrique et puissance<\/td>\nDisjoncteurs, DDR, contacteurs, panneaux complets<\/td>\nInjection de courant \u00e9lev\u00e9, temporisation de d\u00e9clenchement, r\u00e9sistance de contact<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

La plupart des gens associent le segment des semi-conducteurs \u00e0 l'acronyme mentionn\u00e9. La raison en est qu'un syst\u00e8me moderne sur puce (SoC) poss\u00e8de des milliers de broches, ce qui rend n\u00e9cessaire pour les testeurs de mesurer et de piloter la plupart d'entre elles simultan\u00e9ment \u00e0 des vitesses fulgurantes, o\u00f9 chaque picoseconde peut faire la diff\u00e9rence entre succ\u00e8s et \u00e9chec. C'est sans doute le probl\u00e8me le plus difficile \u00e0 mesurer en production de masse, et les entreprises qui ont d\u00e9j\u00e0 r\u00e9ussi \u00e0 le r\u00e9soudre figurent parmi les fabricants les plus pr\u00e9cieux au monde.<\/p>\n

Le segment automobile est le plus dynamique. Le v\u00e9hicule \u00e9lectrique contient un pack de batteries, qui comprend des dizaines de modules, chacun contr\u00f4l\u00e9 par son propre circuit de surveillance. La t\u00e2che est pass\u00e9e de la v\u00e9rification d'un composant \u00e0 la validation d'un syst\u00e8me utilisant essentiellement le bus. Quant au segment a\u00e9rospatial, il est le plus stable mais aussi le plus exigeant, car l'unit\u00e9 rempla\u00e7able en ligne disponible pour ce segment peut rester en service pendant trente ans, ce qui signifie que l'\u00e9quipement de test doit \u00eatre maintenable pendant trente ans.<\/p>\n

\"Les<\/p>\n

ATE pour semi-conducteurs : Le duopole qui explique la cat\u00e9gorie<\/h2>\n

La plupart des estimations publi\u00e9es indiquent qu'Advantest et Teradyne d\u00e9tiennent ensemble environ 86 % du march\u00e9 mondial des ATE pour semi-conducteurs, Advantest \u00e9tant parfois consid\u00e9r\u00e9 comme le plus grand des deux. Advantest a rapport\u00e9 un chiffre d'affaires record d'environ 17 milliards en 2025 ; Teradyne, environ 13,2 milliards. Pour les tests haut de gamme de SoC et de m\u00e9moire, la concentration est encore plus \u00e9lev\u00e9e, d\u00e9passant 90 %.<\/p>\n

Cette structure provient d'un sch\u00e9ma sp\u00e9cifique. Le J259 de Teradyne dans les ann\u00e9es 1960 est g\u00e9n\u00e9ralement cr\u00e9dit\u00e9 d'avoir lanc\u00e9 l'\u00e8re des ATE. Advantest a pris le march\u00e9 des tests de m\u00e9moire \u00e0 mesure que la production japonaise de semi-conducteurs augmentait, puis s'est consolid\u00e9 par acquisitions dans les ann\u00e9es 2000. Le r\u00e9sultat est une industrie o\u00f9 un nouvel entrant doit battre un acteur en place sur une plateforme autour de laquelle les clients ont d\u00e9j\u00e0 construit leurs programmes de test, ce qui est en fait un probl\u00e8me plus difficile que de fabriquer un instrument plus rapide.<\/p>\n

Le march\u00e9 a \u00e9norm\u00e9ment grandi, port\u00e9 par le silicium IA. L'\u00e9quipement mondial de test de semi-conducteurs devrait atteindre environ 15,3 milliards en 2026, avec des projections proches de 20,8 milliards d'ici 2028. Le m\u00e9canisme est simple et un peu contre-intuitif : les puces plus complexes n\u00e9cessitent plus de temps pour \u00eatre test\u00e9es. Le temps de test sur un acc\u00e9l\u00e9rateur IA de pointe est pass\u00e9 d'environ 350 secondes \u00e0 une g\u00e9n\u00e9ration \u00e0 entre 700 et 1 000 secondes \u00e0 la suivante, donc le m\u00eame nombre de puces n\u00e9cessite deux \u00e0 trois fois la capacit\u00e9 du testeur. Le test a cess\u00e9 d'\u00eatre une ligne de co\u00fbt pour devenir une contrainte \u00e0 la production.<\/p>\n

Pour toute personne ext\u00e9rieure aux semi-conducteurs, cette histoire est informative, mais malheureusement pas utile. Elle montre pourquoi la recherche de parts de march\u00e9 dans les \u00e9quipements de test automatis\u00e9s ram\u00e8ne \u00e0 l'analyse des semi-conducteurs, et pourquoi un acheteur d'un banc de test de disjoncteur ne trouvera rien \u00e0 quoi se r\u00e9f\u00e9rer dans le contexte fourni.<\/p>\n

Ce que l'industrie \u00e9lectrique teste, et pourquoi c'est diff\u00e9rent<\/h2>\n

Chaque article pr\u00e9sent\u00e9 dans la section \u00e9lectrique du tableau remplit une fonction de coupure de courant, ce qui rend le processus d'ing\u00e9nierie diff\u00e9rent.<\/p>\n

Les disjoncteurs miniatures sont soumis \u00e0 plusieurs tests tels que l'\u00e9valuation du param\u00e8tre de d\u00e9clenchement thermique pour les valeurs de courant lorsqu'il d\u00e9clenche et lorsqu'il ne d\u00e9clenche pas ; l'\u00e9valuation de la valeur magn\u00e9tique (plusieurs fois le courant nominal), la r\u00e9sistance de contact, la r\u00e9sistance d'isolement et bien d'autres. En outre, les DDR et les RCBO ajoutent un test de protection diff\u00e9rentielle. Les contacteurs effectuent des tests de prise et de chute de bobine ainsi que des tests d'usure sur tous les p\u00f4les. L'ajout de l'assemblage signifie que le test de r\u00e9sistance di\u00e9lectrique sera effectu\u00e9 \u00e0 la toute fin.<\/p>\n

Aucun processus \u00e9labor\u00e9 n'est n\u00e9cessaire pour effectuer le test \u00e9lectrique. Ce dont il a besoin, c'est d'un courant de la valeur la plus \u00e9lev\u00e9e, d'un timing parfait et d'un processus m\u00e9canique. Faire les mesures est facile tandis qu'obtenir les r\u00e9sultats est tr\u00e8s difficile.<\/p>\n

L'\u00e9conomie diff\u00e8re \u00e9norm\u00e9ment. Les tests de semi-conducteurs sont r\u00e9alis\u00e9s sur des millions de puces. Pendant ce temps, les tests \u00e9lectriques sont effectu\u00e9s sur chaque appareil de test fabriqu\u00e9 et le volume peut atteindre des centaines de milliers. Cela explique l'existence de nombreuses petites entreprises dans l'industrie. Un banc construit autour des routines de disjoncteurs \u00e0 air est le plus grand format dans ce segment, et son champ d'application est d\u00e9fini dans cet aper\u00e7u de ce qu'un banc de test ACB mesure et enregistre<\/a>.<\/p>\n

L'anatomie que chaque syst\u00e8me ATE partage<\/h2>\n

Le sch\u00e9ma bloc des syst\u00e8mes de test contient cinq composants principaux, qui sont les m\u00eames quel que soit le domaine d'application respectif.<\/p>\n