{"id":1814,"date":"2026-09-16T17:19:35","date_gmt":"2026-09-16T17:19:35","guid":{"rendered":"https:\/\/benlongkj.com\/?p=1814"},"modified":"2026-09-16T17:19:38","modified_gmt":"2026-09-16T17:19:38","slug":"what-is-automatic-test-equipment","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/blog\/what-is-automatic-test-equipment\/","title":{"rendered":"Qu'est-ce que l'\u00e9quipement de test automatique ? Types, industries et co\u00fbts"},"content":{"rendered":"<p>L'\u00e9quipement de test automatique est d\u00e9crit comme l'\u00e9quipement qui utilise des stimuli pour \u00e9tablir si le produit test\u00e9 fonctionne ou non. Cela signifie que l'\u00e9quipement de test automatique fournit l'entr\u00e9e, mesure la sortie et d\u00e9cide si le produit a r\u00e9ussi le test sans aucune intervention humaine. Cette d\u00e9finition englobe de nombreux outils vari\u00e9s, allant des machines de test v\u00e9rifiant les assemblages de c\u00e2bles aux dispositifs de test pour semi-conducteurs valant des millions de dollars. C'est la raison pour laquelle les gens confondent le terme ATE lorsqu'ils le rencontrent dans diff\u00e9rentes industries, car il ne d\u00e9signe pas seulement un certain type ou une cat\u00e9gorie d'appareils dans une industrie, mais plut\u00f4t une cat\u00e9gorie tr\u00e8s large. Le guide ci-dessous fournit toutes les informations n\u00e9cessaires sur l'\u00e9quipement de test automatique, y compris comment les types d'\u00e9quipements de test automatique diff\u00e8rent les uns des autres, ce que l'\u00e9quipement de test automatique est capable de faire, quelles industries l'utilisent, son prix, et comment sp\u00e9cifier un \u00e9quipement de test automatique.<\/p>\n<blockquote><p>L'\u00e9quipement de test automatique (ATE) d\u00e9signe tout appareil capable d'effectuer des tests de produits sans supervision humaine et automatiquement par le biais de l'application de stimuli, de la mesure des r\u00e9ponses et de la prise de d\u00e9cisions bas\u00e9es sur les r\u00e9sultats obtenus. Les ATE peuvent \u00eatre class\u00e9s en plusieurs groupes majeurs, notamment ICT (test de la carte assembl\u00e9e), sonde volante (un syst\u00e8me ATE qui ne n\u00e9cessite pas de dispositif de test), test fonctionnel (FCT, o\u00f9 le produit entier est test\u00e9), boundary scan, JTAG, inspection optique automatis\u00e9e (AOI), inspection aux rayons X, tests de burn-in et tests environnementaux. Selon les pr\u00e9visions, le march\u00e9 des ATE atteindra environ 7,1 milliards et en 2026, il cro\u00eetra \u00e0 un taux moyen de 5 \u00e0 6 % presque partout dans le monde. Le prix des ATE varie consid\u00e9rablement : de 15 000 \u00e0 20 000 pour une version basique et de 50 000 \u00e0 250 000 pour un appareil ATE avanc\u00e9. Cependant, Teradyne et Advantest repr\u00e9sentent plus de 80 % des appareils ATE vendus.<\/p><\/blockquote>\n<p style=\"text-align: center;\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"alignnone size-full wp-image-1815\" src=\"https:\/\/benlongkj.com\/wp-content\/uploads\/2026\/09\/What-Is-Automatic-Test-Equipment.webp\" alt=\"Qu&#039;est-ce que l&#039;\u00e9quipement de test automatique\" width=\"1448\" height=\"1086\" \/><\/p>\n<h2>Qu'est-ce que l'\u00e9quipement de test automatique<\/h2>\n<p>Quel que soit le secteur, le test automatis\u00e9 suit un processus en quatre \u00e9tapes : stimulus, mesure, comparaison et d\u00e9cision. Le syst\u00e8me g\u00e9n\u00e8re l'entr\u00e9e vers le dispositif sous test (DUT), prend la lecture et compare le r\u00e9sultat avec la limite pr\u00e9d\u00e9termin\u00e9e avant de formuler une conclusion. Les diff\u00e9rences entre les syst\u00e8mes r\u00e9sident dans le type de stimulus utilis\u00e9 et sa m\u00e9thode de mesure, le nombre de points de test, la vitesse requise et les conditions de travail.<\/p>\n<p>On peut savoir que l'ATE est diff\u00e9rent de l'inspection car l'inspection signifie simplement regarder un produit tandis que l'ATE implique de tester le produit. L'ATE est compl\u00e9mentaire \u00e0 l'inspection, ce qui signifie que les deux processus doivent \u00eatre utilis\u00e9s ensemble. De plus, l'ATE ne doit pas \u00eatre confondu avec l'acquisition de donn\u00e9es, qui signifie la collecte des r\u00e9sultats sans test.<\/p>\n<p>Les tests automatis\u00e9s pr\u00e9sentent les caract\u00e9ristiques suivantes que les tests manuels ne peuvent pas avoir : R\u00e9p\u00e9tabilit\u00e9 \u2014 cela signifie qu'une fois qu'un produit est test\u00e9, il peut \u00eatre test\u00e9 \u00e0 nouveau soit par un autre op\u00e9rateur, soit sur une autre machine, mais le r\u00e9sultat sera toujours le m\u00eame ; Vitesse \u2014 cette caract\u00e9ristique signifie que les tests automatis\u00e9s prennent des millisecondes tandis que les tests manuels prennent des secondes ; Couverture \u2014 le nombre de points de test peut atteindre mille et le processus de production ne s\u2019arr\u00eate pas ; Tra\u00e7abilit\u00e9 \u2014 signifie que le r\u00e9sultat de chaque \u00e9quipement peut \u00eatre suivi par son num\u00e9ro de s\u00e9rie.<\/p>\n<h2>Pourquoi les tests automatis\u00e9s existent<\/h2>\n<p>L\u2019adoption des \u00e9quipements de test automatis\u00e9s (ATE) est motiv\u00e9e par trois forces qui s\u2019appliquent non seulement dans l\u2019\u00e9lectronique.<\/p>\n<ul>\n<li><span style=\"color: #ff0000;\">Volume.<\/span> Pour des s\u00e9ries de production de quelques centaines d\u2019unit\u00e9s par an, le test manuel est logique et parfaitement r\u00e9alisable. Cependant, avec des s\u00e9ries de production de plusieurs centaines de milliers, il n\u2019est plus envisageable de s\u2019appuyer sur le test manuel. La raison est qu\u2019il est impossible d\u2019atteindre le volume de test n\u00e9cessaire pour chaque unit\u00e9 dans le temps disponible, m\u00eame si les op\u00e9rateurs pouvaient tester chaque unit\u00e9 en quelques jours ou m\u00eame heures. Ainsi, l\u2019automatisation change la donne pour les tests \u2013 passant du monde de l\u2019\u00e9chantillonnage \u00e0 celui du test 100 % des points.<\/li>\n<li><span style=\"color: #ff0000;\">Co\u00fbt de la d\u00e9faillance.<\/span> Dans les industries o\u00f9 le co\u00fbt de la r\u00e9paration des unit\u00e9s d\u00e9fectueuses est \u00e9lev\u00e9, le co\u00fbt de la d\u00e9faillance sur le terrain est bien sup\u00e9rieur \u00e0 celui des tests. Lorsque les disjoncteurs \u00e9lectriques ne r\u00e9pondent pas, ou que les dispositifs m\u00e9dicaux ne lisent pas un capteur, ou que les unit\u00e9s de contr\u00f4le tombent en panne, cela pose un probl\u00e8me conduisant \u00e0 un rappel co\u00fbteux de produits, des poursuites judiciaires et une r\u00e9putation de marque endommag\u00e9e.<\/li>\n<li><span style=\"color: #ff0000;\">Documentation.<\/span> Il serait impossible de vendre des produits sur les march\u00e9s r\u00e9glement\u00e9s m\u00eame s\u2019ils fonctionnaient parfaitement bien s\u2019il n\u2019y avait pas de documentation prouvant qu\u2019ils fonctionnaient comme pr\u00e9vu. Les tests automatis\u00e9s, quant \u00e0 eux, produisent cette documentation comme sous-produit du processus de test.<\/li>\n<\/ul>\n<p>L\u2019aspect \u00e9conomique peut \u00eatre quantifi\u00e9 et c\u2019est g\u00e9n\u00e9ralement l\u00e0 que toute usine commence son \u00e9valuation des \u00e9conomies potentielles. Le retour sur investissement de l\u2019automatisation du processus de test d\u2019une ligne de production au lieu de le faire manuellement peut \u00eatre quantifi\u00e9 en fonction des chiffres de d\u00e9bit, du taux d\u2019\u00e9chappement des d\u00e9fauts et du co\u00fbt de la main-d\u2019\u0153uvre pour chaque unit\u00e9 produite. Notre analyse de <a href=\"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/blog\/automated-vs-manual-mcb-testing-payback\/\">la rentabilit\u00e9 des tests automatis\u00e9s versus manuels pour les disjoncteurs<\/a> s\u2019appuie sur ce calcul appliqu\u00e9 \u00e0 un produit r\u00e9el.<\/p>\n<p>Les retours plus larges de l\u2019automatisation \u2014 d\u00e9bit, coh\u00e9rence de la qualit\u00e9 et co\u00fbt de la main-d\u2019\u0153uvre par unit\u00e9 sur l\u2019ensemble d\u2019un processus de production plut\u00f4t que sur une seule \u00e9tape de test \u2014 sont couverts dans notre guide sur <a href=\"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/blog\/industrial-automation-solutions-efficiency-benefits\/\">comment l\u2019automatisation industrielle apporte des b\u00e9n\u00e9fices d\u2019efficacit\u00e9<\/a>.<\/p>\n<h2>Les types d\u2019ATE<\/h2>\n<p>La plupart des syst\u00e8mes actuellement utilis\u00e9s commercialement peuvent \u00eatre class\u00e9s dans l\u2019une des cat\u00e9gories sp\u00e9cifiques list\u00e9es ici. Cependant, une ligne de production particuli\u00e8re peut initier les diff\u00e9rents processus repr\u00e9sent\u00e9s par plusieurs des cat\u00e9gories discut\u00e9es ci-dessus.<\/p>\n<table>\n<tbody>\n<tr>\n<th>Type<\/th>\n<th>Ce que ce test \u00e9value<\/th>\n<th>Vitesse typique<\/th>\n<th>Notes \u2192 Notes<\/th>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Test en circuit (ICT)<\/strong><\/td>\n<td>Composants individuels sur une carte assembl\u00e9e \u2014 r\u00e9sistance, capacit\u00e9, jonctions, continuit\u00e9, courts-circuits<\/td>\n<td>Secondes par carte<\/td>\n<td>N\u00e9cessite un dispositif d\u00e9di\u00e9 de type \"lit de clous\" par conception de carte ; la couverture de d\u00e9fauts la plus \u00e9lev\u00e9e au niveau de la carte<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Sonde volante<\/strong><\/td>\n<td>Les m\u00eames d\u00e9fauts que l'ICT, accessibles par des sondes mobiles plut\u00f4t qu'un dispositif fixe<\/td>\n<td>De dizaines de secondes \u00e0 minutes<\/td>\n<td>Pas de co\u00fbt de dispositif, donc adapt\u00e9 aux prototypes, faible volume et production \u00e0 forte diversit\u00e9 ; plus lent que l'ICT<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Test fonctionnel (FCT)<\/strong><\/td>\n<td>Le produit fonctionnant comme un syst\u00e8me \u2014 mise sous tension, communication, ex\u00e9cution de sa fonction<\/td>\n<td>Secondes \u00e0 minutes<\/td>\n<td>La plus grande cat\u00e9gorie en volume unitaire ; la plus proche des conditions r\u00e9elles de fonctionnement<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Analyse de fronti\u00e8re \/ JTAG<\/strong><\/td>\n<td>Interconnexions et dispositifs via leur port d'acc\u00e8s de test int\u00e9gr\u00e9<\/td>\n<td>Rapide<\/td>\n<td>Efficace lorsque l'acc\u00e8s physique par sonde est impossible, comme dans les assemblages BGA denses<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Inspection optique automatis\u00e9e (AOI)<\/strong><\/td>\n<td>Soudures, placement des composants, polarit\u00e9, marquages<\/td>\n<td>Secondes par carte<\/td>\n<td>Inspection plut\u00f4t que test \u00e9lectrique ; d\u00e9tecte les d\u00e9fauts d'assemblage que l'ICT ne peut voir<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Inspection aux rayons X (AXI)<\/strong><\/td>\n<td>Soudures cach\u00e9es \u2014 BGA, QFN, barils traversants<\/td>\n<td>Secondes \u00e0 minutes<\/td>\n<td>Essentiel lorsque les soudures ne sont pas visibles optiquement<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Test de vieillissement et environnemental<\/strong><\/td>\n<td>Fonctionnement sous contraintes de temp\u00e9rature, tension et charge pendant des heures ou des jours<\/td>\n<td>De plusieurs heures \u00e0 plusieurs jours<\/td>\n<td>\u00c9limine la mortalit\u00e9 infantile ; souvent combin\u00e9 avec la surveillance fonctionnelle<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Prober de wafer<\/strong><\/td>\n<td>Puces individuelles sur un wafer avant emballage<\/td>\n<td>Millisecondes par puce<\/td>\n<td>Sp\u00e9cifique aux semi-conducteurs ; la cat\u00e9gorie \u00e0 plus haut d\u00e9bit<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Test final \/ manipulateur de dispositifs<\/strong><\/td>\n<td>Semi-conducteurs emball\u00e9s \u00e0 vitesse et temp\u00e9rature<\/td>\n<td>Millisecondes \u00e0 secondes par dispositif<\/td>\n<td>L'application classique haut de gamme de l'ATE<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Test au niveau syst\u00e8me (SLT)<\/strong><\/td>\n<td>La puce dans un contexte syst\u00e8me r\u00e9aliste \u2014 d\u00e9marrage, ex\u00e9cution de charges de travail<\/td>\n<td>Proc\u00e8s-verbaux<\/td>\n<td>Croissance rapide avec l'emballage avanc\u00e9 rendant le test uniquement sur puce insuffisant<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>\u00c9lectronique de puissance et test \u00e9lectrique<\/strong><\/td>\n<td>Disjoncteurs, contacteurs, transformateurs, moteurs, alimentations, batteries<\/td>\n<td>Secondes \u00e0 minutes<\/td>\n<td>V\u00e9rification de la courbe de d\u00e9clenchement, rigidit\u00e9 di\u00e9lectrique, r\u00e9sistance de contact, \u00e9talonnage<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td><strong>Testeurs de c\u00e2bles et faisceaux<\/strong><\/td>\n<td>Continuit\u00e9, courts-circuits, mauvais c\u00e2blages, position des connecteurs<\/td>\n<td>Secondes<\/td>\n<td>Faible co\u00fbt, tr\u00e8s haut d\u00e9bit ; standard dans la fabrication de faisceaux<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<p style=\"text-align: center;\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"alignnone size-full wp-image-1816\" src=\"https:\/\/benlongkj.com\/wp-content\/uploads\/2026\/09\/The-Types-of-ATE.webp\" alt=\"Les types d\u2019ATE\" width=\"1448\" height=\"1086\" \/><\/p>\n<p>En termes de volume, le test fonctionnel est le segment le plus important, repr\u00e9sentant pr\u00e8s de 35-40 % du total des unit\u00e9s envoy\u00e9es. L'ICT et les sondes volantes repr\u00e9sentent ensemble environ 20-25 % du volume total. L'ATE pour semi-conducteurs a une part de march\u00e9 plus faible avec une valeur de march\u00e9 de 25-30 %, car le prix d'une unit\u00e9 est plus \u00e9lev\u00e9 que le co\u00fbt des tests sur banc pour une installation de fabrication enti\u00e8re.<\/p>\n<h2>Ce qu'il r\u00e9alise<\/h2>\n<p>Il est n\u00e9cessaire d'expliquer les avantages sp\u00e9cifiques de la proc\u00e9dure, car le terme \u201c meilleure qualit\u00e9 \u201d ne peut pas \u00eatre consid\u00e9r\u00e9 comme un argument commercial viable.<\/p>\n<ul>\n<li><span style=\"color: #ff0000;\">Test complet.<\/span> Chaque unit\u00e9 est test\u00e9e, ce qui signifie que la d\u00e9faillance possible est uniquement dict\u00e9e par l'existence du test et non par hasard.<\/li>\n<li><span style=\"color: #ff0000;\">D\u00e9cisions uniformes.<\/span> La machine automatis\u00e9e applique la m\u00eame limitation \u00e0 toutes les unit\u00e9s, assurant ainsi la coh\u00e9rence des r\u00e9sultats, avantage absent si le processus est r\u00e9alis\u00e9 manuellement.<\/li>\n<li><span style=\"color: #ff0000;\">Cycles raccourcis.<\/span> Les mat\u00e9riels actuels peuvent \u00eatre \u00e9quip\u00e9s de syst\u00e8mes de d\u00e9tection de d\u00e9faillance aliment\u00e9s par apprentissage automatique, ce qui peut entra\u00eener une r\u00e9duction de la dur\u00e9e du test de pr\u00e8s de 30 %, ainsi qu\u2019une minimisation des temps d\u2019arr\u00eat diagnostiques gr\u00e2ce \u00e0 l\u2019implication de l\u2019IA.<\/li>\n<li><span style=\"color: #ff0000;\">Documentation transparente.<\/span> Les r\u00e9sultats des tests li\u00e9s \u00e0 des num\u00e9ros de s\u00e9rie particuliers permettent de simplifier les analyses de garantie, les analyses de tendance ainsi que les audits.<\/li>\n<li><span style=\"color: #ff0000;\">D\u00e9tection pr\u00e9coce de toute d\u00e9viation.<\/span> Puisque tout est test\u00e9, cela permet de remarquer les changements de comportement avant les d\u00e9faillances r\u00e9elles.<\/li>\n<li><span style=\"color: #ff0000;\">Capacit\u00e9 accrue sans augmentation de la main-d\u2019\u0153uvre.<\/span> L\u00e0 o\u00f9 il est difficile de trouver des sp\u00e9cialistes, l\u2019automatisation peut remplacer l\u2019inspection manuelle.<\/li>\n<li><span style=\"color: #ff0000;\">Calibration et conformit\u00e9 qualit\u00e9.<\/span> Les r\u00e9sultats des tests effectu\u00e9s selon une norme particuli\u00e8re (ISO 17025) peuvent \u00eatre fiables pour les clients et les organismes de r\u00e9glementation, avec des co\u00fbts associ\u00e9s repr\u00e9sentant 15 \u00e0 25 % de la somme totale.<\/li>\n<\/ul>\n<h2>Industries qui en d\u00e9pendent<\/h2>\n<p>La technologie de test automatis\u00e9 ne se limite pas \u00e0 l\u2019\u00e9lectronique. Les exemples suivants illustrent o\u00f9 elle est d\u00e9j\u00e0 largement appliqu\u00e9e.<\/p>\n<table>\n<tbody>\n<tr>\n<th>dans<\/th>\n<th>Ce qui est test\u00e9<\/th>\n<th>Pourquoi l\u2019automatisation est n\u00e9cessaire<\/th>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Semi-conducteurs<\/td>\n<td>Puces au niveau du wafer, dispositifs emball\u00e9s, syst\u00e8mes en bo\u00eetier<\/td>\n<td>Volumes en milliards ; le test doit s\u2019ex\u00e9cuter en millisecondes par dispositif<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Automobile<\/td>\n<td>ECU, capteurs ADAS, syst\u00e8mes de gestion de batterie, \u00e9lectronique de puissance, faisceaux<\/td>\n<td>Exigences de s\u00e9curit\u00e9 fonctionnelle et exposition aux rappels ; l\u2019automobile est parmi les segments \u00e0 la croissance la plus rapide<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>A\u00e9rospatiale et d\u00e9fense<\/td>\n<td>Avionique, radar, communications, \u00e9lectronique de guidage<\/td>\n<td>Exigences extr\u00eames de fiabilit\u00e9 et tra\u00e7abilit\u00e9 documentaire obligatoire<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Dispositifs m\u00e9dicaux<\/td>\n<td>Implants, imagerie diagnostique, surveillance des patients, syst\u00e8mes d\u2019infusion<\/td>\n<td>L\u2019approbation r\u00e9glementaire d\u00e9pend de la v\u00e9rification document\u00e9e ; le co\u00fbt d\u2019une d\u00e9faillance sur le terrain se mesure en dommages<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Fabrication \u00e9lectrique et \u00e9lectronique<\/td>\n<td>Disjoncteurs, contacteurs, relais, transformateurs, appareillage, panneaux<\/td>\n<td>Les courbes de d\u00e9clenchement, la r\u00e9sistance di\u00e9lectrique et la calibration doivent \u00eatre v\u00e9rifi\u00e9es sur chaque unit\u00e9, pas par \u00e9chantillonnage<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\u00c9lectronique grand public<\/td>\n<td>T\u00e9l\u00e9phones, ordinateurs portables, appareils portables, \u00e9crans<\/td>\n<td>Pression sur le volume et le co\u00fbt ; la plus grande zone d\u2019application unique<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>T\u00e9l\u00e9communications et 5G<\/td>\n<td>Modules RF, \u00e9lectronique de station de base, composants optiques<\/td>\n<td>La caract\u00e9risation haute fr\u00e9quence n\u00e9cessite une mesure de qualit\u00e9 instrumentale<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>\u00c9nergie et puissance<\/td>\n<td>Onduleurs, modules photovolta\u00efques, packs de batteries, \u00e9quipements de r\u00e9seau<\/td>\n<td>Certification de s\u00e9curit\u00e9 et garanties de performance ; les tests de batteries se d\u00e9veloppent rapidement<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Appareils \u00e9lectrom\u00e9nagers et gros \u00e9lectrom\u00e9nagers<\/td>\n<td>Moteurs, contr\u00f4leurs, unit\u00e9s compl\u00e8tes<\/td>\n<td>Les volumes de production rendent le test fonctionnel en fin de ligne obligatoire<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Automatisation industrielle<\/td>\n<td>Variateurs, automates programmables, capteurs, modules E\/S, relais de s\u00e9curit\u00e9<\/td>\n<td>Attentes de fiabilit\u00e9 et v\u00e9rification de configuration par unit\u00e9<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<p>Le point commun entre ces domaines ne r\u00e9side pas dans la technologie mais dans les cons\u00e9quences des d\u00e9faillances. Si vous traitez un article d\u00e9fectueux qui est peu co\u00fbteux et inoffensif, l\u2019inspection par \u00e9chantillonnage a du sens. Lorsque ce n\u2019est pas le cas, le test cesse d\u2019\u00eatre un centre de co\u00fbt et devient une partie des sp\u00e9cifications du produit.<\/p>\n<h2>Ce que cela co\u00fbte<\/h2>\n<p>Le prix diff\u00e8re selon les cat\u00e9gories, donc indiquer un seul prix n\u2019aide pas beaucoup sans conna\u00eetre le contexte dans lequel il s\u2019applique. Les fourchettes fournies ci-dessous ne doivent servir que de chiffres indicatifs en fonction de la r\u00e9gion et de l\u2019application\/configuration sp\u00e9cifique.<\/p>\n<table>\n<tbody>\n<tr>\n<th>Syst\u00e8me<\/th>\n<th>Prix indicatif<\/th>\n<th>Ce qui influence le prix<\/th>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Testeur fonctionnel de table<\/td>\n<td>$5,000-20,000<\/td>\n<td>Nombre d\u2019instruments, pr\u00e9cision de mesure, logiciel<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Syst\u00e8me de test fonctionnel complet<\/td>\n<td>$50,000-150,000<\/td>\n<td>Nombre de canaux, fixation, logiciel de test personnalis\u00e9, int\u00e9gration<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Testeur de c\u00e2bles et faisceaux<\/td>\n<td>$3,000-30,000<\/td>\n<td>Nombre de points de test et taille de la matrice de connecteurs<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Syst\u00e8me \u00e0 sonde volante<\/td>\n<td>$80,000-200,000<\/td>\n<td>Nombre de sondes, vitesse, capacit\u00e9 de taille de carte<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Testeur en circuit<\/td>\n<td>$50,000-150,000<\/td>\n<td>Nombre de points de test, capacit\u00e9 de mesure<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Testeur en circuit avec balayage de fronti\u00e8re avanc\u00e9<\/td>\n<td>$100,000-250,000<\/td>\n<td>Architecture multicanal et capacit\u00e9 JTAG<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Syst\u00e8me AOI ou AXI<\/td>\n<td>$20,000-150,000<\/td>\n<td>R\u00e9solution, d\u00e9bit, 2D versus 3D, puissance des rayons X<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Chambre de vieillissement avec surveillance<\/td>\n<td>$30,000-500,000<\/td>\n<td>Volume de la chambre, plage de temp\u00e9rature, nombre de canaux<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>ATE semi-conducteur (SoC ou m\u00e9moire)<\/td>\n<td>$500,000-3,000,000+<\/td>\n<td>Nombre de broches, vitesse, sous-syst\u00e8me RF, manipulateur, environnement logiciel<\/td>\n<\/tr>\n<tr>\n<td>Ligne de test de production personnalis\u00e9e<\/td>\n<td>$50,000-1,000,000+<\/td>\n<td>Nombre de stations, int\u00e9gration, objectif de d\u00e9bit, niveau d\u2019automatisation<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<p>Il y a trois \u00e9l\u00e9ments de d\u00e9pense souvent sous-estim\u00e9s. Le premier est la fixation : le dispositif personnalis\u00e9 \u00e0 lit d\u2019aiguilles pour le testeur en circuit a un d\u00e9lai de huit \u00e0 douze semaines et a un co\u00fbt s\u00e9par\u00e9 prenant en compte une seule conception de carte. Le second est le logiciel et l\u2019int\u00e9gration : connecter le syst\u00e8me de test \u00e0 un syst\u00e8me d\u2019ex\u00e9cution de fabrication, un historien de donn\u00e9es ou un syst\u00e8me qualit\u00e9 d\u2019entreprise est un projet en soi. Troisi\u00e8mement vient l\u2019\u00e9talonnage et la maintenance : cela peut ajouter environ 15-25 % au co\u00fbt de possession du syst\u00e8me. L\u2019aspect maintenance des syst\u00e8mes devient de plus en plus co\u00fbteux chaque ann\u00e9e. Bien que les accords sur les volumes avec les grands clients puissent influencer le prix, cela a rarement un impact sur l\u2019aspect service.<\/p>\n<h2>Plates-formes et fournisseurs<\/h2>\n<p>La base d\u2019approvisionnement peut \u00eatre divis\u00e9e en trois niveaux et la concurrence est faible.<\/p>\n<p>Le march\u00e9 haut de gamme des ATE semi-conducteurs est largement domin\u00e9 par deux entreprises, Advantest et Teradyne, qui contr\u00f4lent ensemble plus de 80 % du march\u00e9 haut de gamme pour les tests SoC et m\u00e9moire. Leurs plates-formes sont utilis\u00e9es pour les instruments avec le plus grand nombre de broches et les d\u00e9bits de donn\u00e9es les plus \u00e9lev\u00e9s, de sorte qu\u2019une installation peut m\u00eame co\u00fbter plus de 1,2 million !<\/p>\n<p>Les segments Instrument et Modulaire occupent le milieu du march\u00e9. Des entreprises comme Keysight Technologies, Rohde &amp; Schwarz et National Instruments (int\u00e9gr\u00e9 aujourd\u2019hui \u00e0 Emerson) produisent des dispositifs de test (y compris les architectures PXI, VXI, LXI) utilis\u00e9s pour les tests fonctionnels et mixtes. LabVIEW et TestStand pilotent ces dispositifs et offrent une possibilit\u00e9 significative de configuration.<\/p>\n<p>Les entreprises sp\u00e9cialis\u00e9es et r\u00e9gionales occupent la partie restante du march\u00e9. La soci\u00e9t\u00e9 Chroma ATE bas\u00e9e \u00e0 Ta\u00efwan est bien connue pour ses tests d\u2019\u00e9lectronique de puissance et de batteries, tandis que Spea et Seica produisent des syst\u00e8mes de test en circuit et \u00e0 sonde volante. Cohu, Hioki, Yokogawa, Shibaura desservent des niches \u00e9troites, tandis que des fabricants chinois tels que Hangzhou Changchuan Technology et Huagong Tech produisent des tests fonctionnels bon march\u00e9 et des syst\u00e8mes ICT qu\u2019ils exportent. Le segment interm\u00e9diaire manque d\u2019un acteur dominant, car il est occup\u00e9 par une vari\u00e9t\u00e9 de petites entreprises r\u00e9gionales sans avantage unique et beaucoup d\u2019entre elles font face \u00e0 une concurrence importante.<\/p>\n<p>Deux points concernant ce march\u00e9 devraient int\u00e9resser les acheteurs. Premi\u00e8rement, le cycle de remplacement est court : les ATE haut de gamme sont souvent remplac\u00e9s tous les cinq \u00e0 sept ans, tandis que les ATE fonctionnels et ceux en circuit sont remplac\u00e9s tous les trois \u00e0 cinq ans en raison de l\u2019obsolescence rapide des logiciels. Sur les march\u00e9s matures, le remplacement et la modernisation repr\u00e9sentent 40-50 % de toutes les exp\u00e9ditions, ce qui signifie que les march\u00e9s de l\u2019occasion sont importants. Deuxi\u00e8mement, la technologie devient paradoxalement plus complexe : il faut beaucoup plus de temps pour tester les semi-conducteurs modernes compar\u00e9 aux ann\u00e9es pr\u00e9c\u00e9dentes.<\/p>\n<p style=\"text-align: center;\"><img loading=\"lazy\" decoding=\"async\" class=\"alignnone size-full wp-image-1817\" src=\"https:\/\/benlongkj.com\/wp-content\/uploads\/2026\/09\/How-to-Specify-a-System.webp\" alt=\"Comment sp\u00e9cifier un syst\u00e8me\" width=\"1448\" height=\"1086\" \/><\/p>\n<h2>Comment sp\u00e9cifier un syst\u00e8me<\/h2>\n<p>Sept questions distinguent un syst\u00e8me fonctionnel d\u2019un syst\u00e8me abandonn\u00e9 apr\u00e8s cinq ans.<\/p>\n<ul>\n<li>Quelles fautes doit-il identifier ? Commencez par les modes de d\u00e9faillance et les exigences de taux de d\u00e9tection, pas par les fonctionnalit\u00e9s du fournisseur. La couverture est l\u2019exigence ; tout le reste n\u2019est qu\u2019un outil pour l\u2019atteindre.<\/li>\n<li>Quel est le d\u00e9bit requis ? Exprimez-le en unit\u00e9s par heure \u00e0 cette couverture, car une couverture plus \u00e9lev\u00e9e implique g\u00e9n\u00e9ralement des temps de cycle plus longs. Il y a un compromis entre les deux.<\/li>\n<li>Comment le produit va-t-il \u00e9voluer ? Les tests en circuit bas\u00e9s sur des fixations sont rapides, mais peuvent n\u00e9cessiter diff\u00e9rentes fixations pour chaque r\u00e9vision de carte. En revanche, les plateformes \u00e0 sonde volante ou fonctionnelles configurables peuvent \u00eatre plus lentes, mais plus universelles en termes de nombre de changements dans les produits.<\/li>\n<li>Que va-t-il advenir des donn\u00e9es ? D\u00e9terminez \u00e0 l\u2019avance si les r\u00e9sultats seront int\u00e9gr\u00e9s dans un syst\u00e8me d\u2019ex\u00e9cution de fabrication ou une base de donn\u00e9es qualit\u00e9 et d\u00e9finissez les interfaces. L\u2019int\u00e9gration des donn\u00e9es en modernisation est plus co\u00fbteuse que la conception d\u00e8s le d\u00e9part.<\/li>\n<li>Qui d\u00e9veloppe et maintient le logiciel de test ? C\u2019est souvent le co\u00fbt cach\u00e9 le plus important et la source de retards lors de l\u2019installation du syst\u00e8me. D\u00e9couvrez qui poss\u00e8de le logiciel de test et comment il \u00e9voluera avec le syst\u00e8me.<\/li>\n<li>Comment le syst\u00e8me sera-t-il initialis\u00e9 et maintenu ? D\u00e9terminez si l\u2019\u00e9talonnage est effectu\u00e9 de mani\u00e8re continue, si cela se fait avec une certification amiable, si les pi\u00e8ces de rechange et les temps de r\u00e9ponse du service sont garantis.<\/li>\n<li>Quel est le co\u00fbt total de possession ? Il doit inclure les fixations, le logiciel, l\u2019int\u00e9gration, l\u2019\u00e9talonnage, les pi\u00e8ces de rechange et les mises \u00e0 niveau. Le prix d\u2019achat est g\u00e9n\u00e9ralement une partie controvers\u00e9e de l\u2019estimation. La discipline d\u2019\u00e9valuation de l\u2019automatisation capitalistique de cette mani\u00e8re est la m\u00eame que celle expos\u00e9e dans notre <a href=\"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/blog\/best-automated-production-line-solutions-for-buyers\/\">guide pour les acheteurs \u00e9valuant les lignes de production automatis\u00e9es<\/a>.<\/li>\n<\/ul>\n<h2>Test \u00e0 l\u2019int\u00e9rieur d\u2019une ligne de production<\/h2>\n<p>Une distinction cl\u00e9 \u00e0 faire est celle entre l'achat d'un \u00e9quipement de test et l'int\u00e9gration du test dans un processus de production. Une machine de test autonome peut \u00eatre d\u00e9crite comme op\u00e9rant \u00e0 la sortie d'un processus de production tandis qu'une station int\u00e9gr\u00e9e fait partie du processus et fournit des entr\u00e9es pour ses op\u00e9rations.<\/p>\n<p>En termes de retour sur investissement, le test int\u00e9gr\u00e9 offre la meilleure performance. Le succ\u00e8s ne vient cependant pas du test lui-m\u00eame. Lorsque tous les articles produits sont test\u00e9s, les informations sur les d\u00e9faillances peuvent servir de signal de gestion de la production. Le fait qu'un certain param\u00e8tre ait chang\u00e9 indique qu'une action doit \u00eatre prise \u00e0 une station en amont avant que le taux de d\u00e9fauts ne commence \u00e0 changer. Ainsi, l'int\u00e9gration au niveau de la station simplifie la gestion, \u00e9conomise de l'espace de production et \u00e9limine les d\u00e9lais entre la production et le test, ce qui signifie un meilleur retour sur investissement.<\/p>\n<p>C'est pr\u00e9cis\u00e9ment dans ce cr\u00e9neau que benlongkj op\u00e8re : lignes de fabrication automatis\u00e9es et syst\u00e8mes de production pour composants \u00e9lectriques, y compris des lignes de production avec test et \u00e9talonnage automatis\u00e9s en ligne plut\u00f4t qu'une \u00e9tape de test autonome ajout\u00e9e \u00e0 la fin du processus. Les fabricants qui \u00e9valuent cette approche p\u00e8sent les m\u00eames compromis que pour tout projet d'automatisation, et le panorama plus large des options est pr\u00e9sent\u00e9 dans notre aper\u00e7u de <a href=\"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/blog\/manufacturing-automation-solutions\/\">: chaque joint automatis\u00e9 se traduit par un rendement plus \u00e9lev\u00e9, un contr\u00f4le des co\u00fbts plus strict et un meilleur dossier de conformit\u00e9. Vous pouvez consulter l'ensemble de la gamme sur notre<\/a>.<\/p>\n<p>Un exemple concret d'une ligne int\u00e9gr\u00e9e \u2014 o\u00f9 l'assemblage et le test forment un processus continu \u2014 est le <a href=\"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/mcb-automatic-production-line-product\/\">ligne de production automatique MCB<\/a>, qui int\u00e8gre la v\u00e9rification et l'\u00e9talonnage des courbes de d\u00e9clenchement dans la s\u00e9quence de fabrication plut\u00f4t que de les traiter comme une inspection en aval.<\/p>\n<p>Le conseil pour tout acheteur est de prendre une d\u00e9cision pr\u00e9coce sur le mod\u00e8le n\u00e9cessaire. Si le besoin concerne la v\u00e9rification du produit, un syst\u00e8me ATE autonome est le meilleur choix, avec les crit\u00e8res mentionn\u00e9s ci-dessus applicables. Si le besoin est d'incorporer le test d\u00e8s le d\u00e9part, il faut concevoir la partie test du syst\u00e8me d\u00e8s le d\u00e9but car ajouter par la suite un test en ligne \u00e0 une ligne existante est beaucoup plus complexe que de le construire \u00e0 partir de z\u00e9ro en tenant compte de ses sp\u00e9cifications.<\/p>\n<h2>FAQ<\/h2>\n<h3>Quels sont des exemples d'\u00e9quipements de test automatis\u00e9s ?<\/h3>\n<p>Des exemples se trouvent tout au long du spectre. En assemblage \u00e9lectronique, le testeur en circuit teste les composants d'un PCB peupl\u00e9, tandis que le syst\u00e8me \u00e0 sonde volante r\u00e9alise la m\u00eame proc\u00e9dure de test sans dispositifs de fixation. Au niveau du produit, le syst\u00e8me de test fonctionnel alimente le produit assembl\u00e9 et v\u00e9rifie que la fonctionnalit\u00e9 est assur\u00e9e. Pour les composants, le testeur de faisceau v\u00e9rifie la continuit\u00e9, et le syst\u00e8me de test d'\u00e9lectronique de puissance teste les courbes de d\u00e9clenchement, la rigidit\u00e9 di\u00e9lectrique et la r\u00e9sistance de contact aux disjoncteurs et autres dispositifs. Au niveau haut de gamme, les syst\u00e8mes ATE pour semi-conducteurs testent les puces au niveau des wafers et des dispositifs emball\u00e9s \u00e0 grande vitesse et sous des temp\u00e9ratures extr\u00eames, et les syst\u00e8mes de test au niveau syst\u00e8me testent les puces dans un mode raisonnablement r\u00e9aliste.<\/p>\n<h3>Quel est le but du test automatique ?<\/h3>\n<p>L'objectif est de rendre une d\u00e9cision uniforme et document\u00e9e de r\u00e9ussite\/\u00e9chec sur chaque unit\u00e9, contrairement \u00e0 la formation d'une opinion sur certains \u00e9chantillons. Cela atteint quatre objectifs en un : la r\u00e9p\u00e9tabilit\u00e9, o\u00f9 la m\u00eame unit\u00e9 donne le m\u00eame r\u00e9sultat ind\u00e9pendamment de la personne effectuant les tests ; la rapidit\u00e9, conduisant \u00e0 un test complet \u00e0 la vitesse de production ; la couverture, permettant le test de milliers de points de test ; et la tra\u00e7abilit\u00e9, o\u00f9 chaque r\u00e9sultat de test est associ\u00e9 \u00e0 un num\u00e9ro de s\u00e9rie. Ainsi, les entreprises d\u00e9tecteront les d\u00e9fauts dans les usines plut\u00f4t que les clients, ce qui, \u00e0 son tour, entra\u00eenera la disponibilit\u00e9 des preuves n\u00e9cessaires pour la r\u00e9clamation de garantie.<\/p>\n<h3>Qu'est-ce que l'\u00e9quipement de test automatique (ATE) ?<\/h3>\n<p>L'\u00e9quipement de test automatis\u00e9 (ATE) est le nom utilis\u00e9 pour les syst\u00e8mes qui emploient des mesures automatiques pour tester les produits en stimulant le produit, en mesurant sa r\u00e9action, puis en comparant le r\u00e9sultat aux sp\u00e9cifications. L'ATE est souvent mentionn\u00e9 dans le domaine des semi-conducteurs car ces syst\u00e8mes testent \u00e0 la fois les wafers et les dispositifs emball\u00e9s. Cependant, l'ATE fait \u00e9galement r\u00e9f\u00e9rence aux testeurs en circuit, aux syst\u00e8mes \u00e0 sonde volante, aux plateformes de test fonctionnel, aux outils de balayage en limite, \u00e0 l'inspection optique et \u00e0 l'inspection aux rayons X, aux syst\u00e8mes de burn-in et aux bancs d'essai pour l'\u00e9lectronique de puissance.<\/p>\n<h3>Quels sont les 5 meilleurs outils de test d'automatisation ?<\/h3>\n<p>La r\u00e9ponse varie en fonction du type de test puisque les outils utilis\u00e9s dans l'automatisation des tests logiciels diff\u00e8rent de ceux utilis\u00e9s dans l'automatisation des tests mat\u00e9riels. Dans le cas du mat\u00e9riel, les syst\u00e8mes typiques mentionn\u00e9s seront les plateformes Teradyne et Advantest pour les semi-conducteurs et autres types de tests \u00e9lectroniques, les syst\u00e8mes Keysight pour les tests RF et mixtes, LabVIEW et TestStand de National Instruments pour les tests de mise en page, et Chroma ATE pour les tests de batterie, tandis que le r\u00f4le de SPEA, Seica et Cohu sera respectivement dans le test en circuit, la sonde volante et la manipulation des dispositifs. Dans le cas des tests logiciels, les outils d'automatisation courants utilis\u00e9s sont Selenium, Playwright, Cypress, Appium et Robot Framework. Tout fournisseur proposant une liste de produits incluant les deux groupes ne comprend pas ce qui est demand\u00e9.<\/p>\n<h3>Ai-je besoin d'un \u00e9quipement de test automatique si mon volume de production est faible ?<\/h3>\n<p>Il convient souvent de pr\u00e9ciser que l'utilisation d'un syst\u00e8me d\u00e9di\u00e9 \u00e0 faible volume n'a pas de sens financier, et il pourrait \u00eatre plus judicieux d'utiliser un test manuel, en veillant \u00e0 ce que tous les enregistrements n\u00e9cessaires soient conserv\u00e9s. L'une des occasions o\u00f9 l'utilisation de l'automatisation peut \u00eatre justifi\u00e9e \u00e0 faible volume est lorsque les d\u00e9fauts ont des cons\u00e9quences graves, comme dans le cas des dispositifs m\u00e9dicaux, des produits a\u00e9ronautiques, des dispositifs de s\u00e9curit\u00e9, ou si le test ne peut pas \u00eatre effectu\u00e9 manuellement en raison de limitations techniques concernant la pr\u00e9cision et la reproductibilit\u00e9. Dans les cas de faibles volumes et d'une gamme diversifi\u00e9e de produits, l'utilisation d'un syst\u00e8me \u00e0 sonde volante ou d'une certaine plateforme fonctionnelle semble \u00eatre la meilleure solution car ils ne n\u00e9cessitent pas de changement d'outillage en cas de changement de produit.<\/p>\n<h2>R\u00e9f\u00e9rences<\/h2>\n<ul>\n<li><a href=\"https:\/\/www.teradyne.com\/\" rel=\"nofollow noopener\" target=\"_blank\">Teradyne \u2014 Syst\u00e8mes de test pour semi-conducteurs et \u00e9lectronique<\/a><\/li>\n<li><a href=\"https:\/\/www.advantest.com\/\" rel=\"nofollow noopener\" target=\"_blank\">Advantest \u2014 \u00c9quipements de test automatis\u00e9s pour dispositifs semi-conducteurs<\/a><\/li>\n<li><a href=\"https:\/\/www.keysight.com\/\" rel=\"nofollow noopener\" target=\"_blank\">Keysight Technologies \u2014 Instruments \u00e9lectroniques de test et de mesure<\/a><\/li>\n<li><a href=\"https:\/\/www.ni.com\/\" rel=\"nofollow noopener\" target=\"_blank\">National Instruments (Emerson) \u2014 Plates-formes de test automatis\u00e9es et logiciel TestStand<\/a><\/li>\n<li><a href=\"https:\/\/www.iso.org\/\" rel=\"nofollow noopener\" target=\"_blank\">ISO \u2014 Accr\u00e9ditation des laboratoires d\u2019\u00e9talonnage et d\u2019essais ISO\/IEC 17025<\/a><\/li>\n<li><a href=\"https:\/\/www.ipc.org\/\" rel=\"nofollow noopener\" target=\"_blank\">IPC \u2014 IPC-9252 Exigences pour les tests \u00e9lectriques des circuits imprim\u00e9s non peupl\u00e9s<\/a><\/li>\n<\/ul>\n<h2>Conclusion<\/h2>\n<p>Les \u00e9quipements de test automatiques r\u00e9pondent \u00e0 la question simple : comment garantir qu\u2019un certain article fonctionne correctement ? Avec les \u00e9quipements de test automatiques, chaque article est test\u00e9 de mani\u00e8re fiable et document\u00e9 selon son r\u00e9sultat r\u00e9ussite\/\u00e9chec en moins de temps et avec une couverture plus \u00e9lev\u00e9e qu\u2019une inspection manuelle. Un \u00e9quipement de test automatique peut \u00eatre un testeur de harnais de banc peu co\u00fbteux, ou une plate-forme de test de semi-conducteurs co\u00fbteuse valant des millions de dollars, mais le principe est le m\u00eame : cr\u00e9er une stimulation, mesurer la r\u00e9ponse, comparer et prendre une d\u00e9cision. Les \u00e9quipements de test automatiques r\u00e9volutionnent tout le processus de test en rendant inutile une proc\u00e9dure d\u2019\u00e9chantillonnage auparavant obligatoire, ainsi, avec l\u2019aide des \u00e9quipements de test automatiques, vous obtenez une v\u00e9rification produit 100 % au lieu d\u2019un \u00e9chantillonnage, votre test ne repose pas sur un jugement, mais sur des mesures. D\u2019ailleurs, le prix des syst\u00e8mes de test varie de quelques milliers de dollars pour les tests fonctionnels \u00e0 des millions pour les tests de semi-conducteurs, avec un suppl\u00e9ment possible pour le mat\u00e9riel additionnel, l\u2019int\u00e9gration logicielle et l\u2019\u00e9talonnage. Choisissez parmi les modes de d\u00e9faillance que vous souhaitez d\u00e9tecter, optez d\u00e9lib\u00e9r\u00e9ment entre la couverture et le temps de cycle, ou d\u00e9cidez si ce syst\u00e8me de test sera une m\u00e9thode autonome ou une partie int\u00e9grante de la ligne de production, et calculez toutes les d\u00e9penses au lieu de simplement \u00e9valuer le prix d\u2019achat.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Automatic Test equipment is described as the equipment that uses stimuli to establish if the tested product works or not. It means that Automatic Test equipment provides the input, measures the output, and decides whether the product has passed the testing without any human intervention. That definition means a lot of various tools from testing [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1815,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[1],"tags":[],"class_list":["post-1814","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-blog"],"blocksy_meta":[],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1814","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1814"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1814\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1818,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1814\/revisions\/1818"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1815"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1814"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1814"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/benlongkj.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1814"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}